Hitachi High-Tech establece un nuevo ritmo para el análisis de revestimientos y enchapados con el nuevo FT230

Oxford, 22 de Febrero de 2022: Hitachi High-Tech Analytical Science ha expandido su gama de análisis de revestimientos y enchapados con el lanzamiento del novedoso FT230. El nuevo FT230 está diseñado para permitir un control de calidad que mantenga el paso con la producción simplificando y acelerando significativamente la prueba de los componentes y la ensambladura.  El FT230 acelera el análisis y reduce errores costosos, removiendo los obstáculos tradicionales del análisis XRF, para ayudar a que los fabricantes de componentes, equipos electrónicos, empresas de acabados de metal e instalaciones de enchapado sobre plásticos logren un 100 % de inspecciones y cumplan especificaciones cada vez más exigentes.

 

Permita que el XRF tome decisiones por usted

Cada aspecto del FT230 fue diseñado para reducir la cantidad de tiempo que toma completar una medición XRF (fluorescencia por rayos X). Con instrumentos XRF tradicionales, aproximadamente el 72 % del tiempo de prueba se pierde en la configuración, lo que significa que los operadores pasan significativamente más tiempo preparando una medición y manipulando los resultados de lo que el instrumento pasa analizando la pieza. La experiencia del usuario (UX) con el FT230 mejora significativamente gracias a una característica inteligente de reconocimiento de pieza llamada Find My Part™ (encuentra mi pieza) que automáticamente selecciona las características que deben medirse, las rutinas analíticas y las reglas de reporte para que el operador pase menos tiempo utilizando el XRF y más tiempo trabajando con los resultados. La biblioteca incorporada, creada por usuarios es fácilmente expandible para manejar piezas y rutinas nuevas. a medida que su trabajo cambia.

Simplemente más inteligente

El FT230 es el primer producto que ejecuta el nuevo software FT Connect de Hitachi, que contiene los mejores aspectos de su software SmartLink y X-ray Station y agrega nuevas funcionalidades listas para mejorar su uso. FT Connect invierte la interfaz de usuario completamente. Mientras que con el software tradicional, la mayor parte de la pantalla está llena de controles —muchos de los cuales no se usan con frecuencia y a veces nunca, FT Connect enfoca la interfaz sobre los aspectos más importantes del XRF. El espacio en la pantalla despliega la vista de muestras más grande de la industria y la presentación de resultados claros, lo que hace que sea más fácil posicionar piezas para el análisis y ver los resultados.

Gestión de datos para la industria 4.0

Puede enviar resultados instantáneamente a donde los necesita con las características flexibles de gestión de datos de FT Connect.  Los resultados se despliegan prominentemente en la pantalla principal de mediciones para que los operadores puedan tomar acciones rápidamente y almacenarlos en el analizador para revisiones posteriores. Los resultados se pueden exportar a una hoja de cálculo o un formato integral JSON para incorporarlos a sistemas SCADA, SGC, MES o ERP. Se pueden crear de manera similar informes personalizados para clientes internos o externos.

Mantenimiento de instrumentos más sencillo

Además de una serie de funciones para confirmar la estabilidad del instrumento (que incluye chequeos rutinarios del instrumento y herramientas de validación de la calibración), los diagnósticos integrados brindan información adicional a los usuarios sobre el buen estado del instrumento. Estos datos se pueden compartir directamente con el equipo de soporte técnico de Hitachi a través de ExTOPE Connect (un servicio avanzado de gestión y almacenamiento de datos de Hitachi en la nube que le permite compartir datos al instante y de manera segura). 

Mediciones más allá de enchapados y revestimientos

El FT230 agrega valor más allá de las mediciones de grosor y composición de enchapados y revestimientos. El excelente software y la alta resolución SDD hacen posible evaluar la conformidad de las piezas con las leyes de materiales restringidos, como la normativa RoHS y el análisis de la composición de materiales, incluyendo soluciones de enchapado de baños y aleaciones de metales, útil para validar los sustratos que ingresan y confirmar la química, lo que es crucial para los centros de punzonado que manejan metales preciosos.

Hágalo correctamente la primera vez

Matt Kreiner, gerente de producto de Análisis de Revestimientos de Hitachi, dijo: "El FT230 cambia fundamentalmente la manera en que los operadores interactúan con un analizador XRF. Por décadas, el usuario tenía que recordar o buscar la receta para medir una pieza de producción, tomar decisiones sobre el revestimiento/enchapado (¿la chapa es Ni/Au o Ni/Pd/Au?), la ubicación de las mediciones, el tamaño del punto, el tiempo de medición y las reglas de informes. Incluso con sistemas que podían brindar parte de esa información con un escaneo de código de barra o código QR, el usuario aún tenía que tomar decisiones. Y las decisiones dan lugar a errores que los fabricantes no pueden permitirse el lujo de cometer. Con el FT230, el usuario carga una pieza en la cámara, ejecuta la rutina Find My Part™ y el instrumento se encarga de lo demás.  Todo lo que hemos integrado en el FT230 fue diseñado para acortar y simplificar la parte más compleja y de más demora de la medición XRF —la configuración. Esto reduce errores, libera a los operadores para que realicen tareas de valor agregado e incrementa el volumen de pruebas para que los dueños de equipos XRF puedan hacer más con menos".

 

Desde enchapados y revestimientos a aplicaciones sofisticadas sobre las piezas más pequeñas, la extensa gama de analizadores de Hitachi High-Tech —que ahora incluye el FT230— está diseñada para confiablemente medir piezas revestidas en toda la producción, desde la inspección, el control de procesos hasta el control de calidad final.

Conozca más detalles

Date: 9 May 2022

Author: Hitachi High-Tech Analytical Science

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