РФА анализаторы с микрофокусировкой | Линейки MAXXI, FT и X-Strata

Толщиномеры и РФА анализаторы материалов покрытия с микрофокусировкой для осуществления быстрого контроля качества и проверочного тестирования позволяют получить результаты в считанные секунды.

Анализ толщины покрытия и материалов на основе метода РФА является широко распространенным и проверенным в отрасли аналитическим методом, предлагающим простой в использовании, быстрый и неразрушающий анализ, требующий незначительной подготовки образца, способный производить анализ широкого диапазона элементов периодической таблицы от 13Al до 92U.

Получить оценочную стоимость или демонстрацию

Области применения

Обработка печатных плат

Возможность контролировать процесс обработки определяет шаг координатной сетки, надежность и срок годности платы. Измеряйте толщину и состав покрытия безэлектролитного никеля (EN, NiP) в соответствии с IPC 4556 и IPC 4552. Продукты Hitachi позволяют проводить операции в условиях жестких спецификаций, обеспечивая высокое качество и избавляя от дорогостоящих повторных работ.

Покрытие электрических и электронных компонентов

Покрытие компонентов должно осуществляться в соответствии со спецификацией, чтобы обеспечить желаемые электрические, механические и экологические свойства. Измеряйте маленькие предметы или непрерывные полосы с помощью щелевой камеры продуктов серий X-Strata, FT и MAXXI, чтобы контролировать верхний, средний и электролитический тонкий слой металла выводной рамки, контактов разъемов, провода и выводов.

Пакеты подложек интегральных микросхем

Полупроводники становятся все меньше и сложнее, требуя использовать аналитическое оборудование для измерения тонких пленок на маленьких участках. Конструкция анализаторов Hitachi обеспечивает высокую точность анализа и воспроизводимое положение образца для областей применения с высокими требованиями.

Производство и сервисное обслуживание электроники

Комбинирование поставляемых и собственных компонентов в единой окончательной сборке включает в себя множество точек проверки, начиная с входного и поточного контроля и заканчивая финальным контролем качества. РФА продукты Hitachi с микрофокусировкой позволят Вам проанализировать компоненты, припой и покрытия на всей территории объекта, гарантируя качество на каждом этапе.

Фотоэлектрические  элементы

Спрос на возобновляемые источники энергии продолжает увеличиваться, при этом в использовании солнечной энергии важную роль играют фотоэлектрические элементы. Возможность эффективного сбора этого вида энергии отчасти определяется качеством тонкопленочных солнечных панелей. Обеспечивайте точное и надежное покрытие таких панелей при помощи РФА анализатора с микрофокусировкой для максимальной эффективности.

Запрещенные материалы и высоконадежный скрининг

При работе со сложной, глобальной цепью поставок крайне важно проверять материалы, полученные от поставщиков. Используйте РФА технологии Hitachi, чтобы проверить, соответствуют ли поступающие грузы регламентам, таким как RoHS и ELV согласно методологии IEC 62321, а также обеспечивайте применение высоконадежных покрытий в аэрокосмической и военной отраслях.

 

X-Strata 920
Пропорциональный счетчик

FT110A
Пропорциональный счетчик

MAXXI 6
Полупроводниковый детектор SDD
с высоким разрешением

FT150
Полупроводниковый детектор SDD
с высоким разрешением
Polycapillary optic 

Иммерсионное золочение по подслою никеля ★★☆ ★★☆ ★★★ ★★★
Иммерсионное золочение по подслою никеля и палладия ★★☆ ★★☆ ★★★ ★★★
Толщина и состав химического никелирования  (IPC 4556, IPC 4552) N/A N/A ★★★ ★★★
Толщина химического никелирования ★★☆ ★★☆ ★★★ ★★★
Иммерсионное покрытие Ag ★★☆ ★★☆ ★★★ ★★★
Иммерсионное покрытие Sn ★★☆ ★★☆ ★★★ ★★★
Выравнивание припоя горячим воздухом ★★☆ ★★☆ ★★★ ★★★
Припой без Pb (например, SAC) ★☆☆ ★☆☆ ★★★ ★★★
CIGS N/A N/A ★★★ ★★★
CdTe N/A N/A ★★★ ★★★
Анализ тонкой пленки в нано-масштабе N/A N/A ★★★ ★★★
Многослойный анализ ★★☆ ★★☆ ★★★ ★★★
Скрининг по стандарту МЭК 62321 RoHS N/A N/A ★★★ N/A
Измерение деталей < 50 мкм N/A N/A N/A ★★★
Программное обеспечение для распознавания образов N/A ★★★ N/A ★★★

Устойчивость к коррозии

Проверяйте толщину и химический состав наносимого покрытия, чтобы обеспечить функциональность продукции и долгий срок службы в экстремальных условиях. Легкость проверки, как маленьких крепежных элементов, так и больших сборных конструкций.

Устойчивость к износу

Предотвратите неисправность продукта, обеспечив толщину и однородность критических компонентов, работающих в абразивных средах. Возможность измерить сложные формы, тонкие или толстые покрытия и готовые изделия.

Декоративная отделка

Когда стоит цель получить безупречную отделку, крайне важным становится контроль качества на протяжении всего процесса производства. С помощью линейки оборудования для тестирования Hitachi, Вы сможете надежно проверить базовые материалы, протестировать средний и верхний слои.

Устойчивость к высокой температуре

Обработка поверхности деталей, которые будут работать в самых экстремальных условиях, должна контролироваться жесткими спецификациями.  Обеспечьте соответствие покрытий техническим характеристикам для предотвращения отзыва продукта и потенциально катастрофических последствий.

 

X-Strata 920
Пропорциональный счетчик

FT110A
Пропорциональный счетчик

MAXXI 6
Полупроводниковый детектор SDD 
с высоким разрешением

FT150
Полупроводниковый детектор SDD 
с высоким разрешением

Сплавы Zn / Fe, Fe
Сплавы Cr / Fe, Fe
Ni / Fe, FeСплавы 
★★☆ ★★☆ ★★★ ★★★
ZnNi / Fe, FeСплавы 
ZnSn / Fe, FeСплавы 
★★☆ ★★☆ ★★★ ★★★
NiP / Fe
NiP / Cu
NiP / Al
★★☆
(Только толщина)
★★☆
(Только толщина)
★★★
(Толщина и состав)
★★★
(Толщина и состав)
Ag / Cu
Sn / Cu 
★★☆ ★★☆ ★★★ ★★★
Cr / Ni / Cu / ABS ★★☆ ★★☆ ★★★ ★★★
Au / Pd / Ni /CuZn ★★☆ ★★☆ ★★★ ★★★
 Сплавы WC / Fe, Fe
Сплавы TiN / Fe, Fe
★★☆ ★★☆ ★★★ ★★★
Анализ тонкой пленки в нано-масштабе N/A N/A ★★★ ★★★
Многослойный анализ ★★☆ ★★☆ ★★★ ★★★
Скрининг по стандарту МЭК 62321 RoHS N/A N/A ★★★ N/A
Независимое измерение расстояния N/A ★★★ N/A N/A
Программное обеспечение для распознавания образов N/A ★★★ N/A N/A

Сравнение продуктов

X-Strata 920
  • Система с пропорциональным счетчиком или SDD с высоким разрешением 
  • Диапазон элементов: Ti - U или Al – U (SDD)
  • Конструкция камеры: щелевая
  • Опции оси X-Y: фиксированное основание, глубокая лунка, с электроприводом
  • Самый большой образец: 270 x 500 x 150 мм
  • Максимальное количество коллиматоров: 6
  • Фильтры: 1
  • Самый маленький коллиматор: 0.01 x 0.25 мм (0.5 x10 мил)
  • Программное обеспечение SmartLink
Получить оценочную стоимость
FT110A
  • Система с пропорциональным счетчиком
  • Диапазон элементов: Ti - U
  • Конструкция камеры: щелевая или закрыта
  • Опции оси X-Y: фиксированное основание, с электроприводом
  • Самый большой образец: 500 x 400 x 150 mm
  • Максимальное количество коллиматоров: 4
  • Фильтры: 1
  • Самый маленький коллиматор: 0.05 mm
  • Программное обеспечение X-ray Station
Получить оценочную стоимость
MAXXI 6
  • Кремниевый дрейфовый проводник с высоким разрешением (SDD)
  • Диапазон элементов: Al – U
  • Конструкция камеры: закрытая
  • Опции оси X-Y: фиксированное основание, с электроприводом
  • Самый большой образец: 500 x 450 x 170 mm
  • Максимальное количество коллиматоров: 8
  • Фильтры: 5
  • Самый маленький коллиматор: 0.05 x 0.05 mm (2 x 2 mil)
  • Программное обеспечение SmartLink
Получить оценочную стоимость
FT150
  • Кремниевый дрейфовый проводник с высоким разрешением (SDD)
  • Диапазон элементов: Al-U
  • Конструкция камеры: закрытая
  • Опции оси X-Y: с электроприводом, с пластиной
  • Самый большой образец: 600 x 600 x 20 mm
  • Фильтры: 1 или 3
  • XRF Controller
Получить оценочную стоимость

Файлы для скачивания


Задайте вопрос, запросите оценочную стоимость или демонстрацию

Complete your details below to ask a question or to request pricing or a demo.

We send out regular marketing news, updates, promotions and offers by email. Please let us know if you would like us to contact you by email or not, by selecting one of the options below. *

Свяжитесь с нами


Обратитесь в местный офис