Analisadores XRF microspot | Linhas FT, X-Strata

Analisadores de materiais e espessura de revestimentos XRF microspot para rápido controlo da qualidade e testes de validação, facilitando a obtenção dos resultados certos em segundos.

A análise de espessura e materiais de revestimento baseada em fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica analítica amplamente aceite e comprovada pela indústria, oferecendo análises fáceis de usar, rápidas e não destrutivas, exigindo pouca ou nenhuma preparação de amostras, capaz de analisar sólidos ou líquidos numa ampla faixa de elementos, do alumínio (13) ao urânio (92) na tabela periódica.

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Aplicações

Acabamento de PCB/PWB

A capacidade de controlar os processos de acabamento determina o afastamento, a confiabilidade e a validade das placas. Meça a espessura e a composição do chapeamento de níquel eletrolítico (EN, NiP) de acordo com o IPC 4556 e o IPC 4552. Os produtos da Oxford Instruments permitem que você mantenha suas operações em estreita tolerância para garantir alta qualidade e evita retrabalhos dispendiosos.

Chapeamento de componentes elétricos e eletrónicos

Os componentes devem ser banhados dentro da especificação para fornecer as propriedades elétricas, mecânicas e ambientais desejadas. Meça características pequenas ou tiras contínuas usando a câmara ranhurada dos produtos das séries X-Strata para controlar as camadas superior, intermediária e de fecho dos contactos (leadframes), pinos conectores, fios e terminações.

Pacotes de substrato de CI

Os semicondutores estão se tornando cada vez mais miniaturizados e complexos, exigindo equipamentos analíticos para medir filmes finos em pequenas áreas. Os analisadores da Oxford Instruments são projetados para fornecer análise de alta precisão e posicionamento de amostra reproduzível para aplicações exigentes.

Serviços de manufatura eletrónica (EMS, ECS)

A combinação de componentes de origem remota e fabricados localmente para montar um conjunto ou produto final envolve muitos pontos de teste, desde a inspeção de entrada até ao controlo do processo na linha até ao controlo da qualidade final. Os produtos XRF microspot da Oxford Instruments permitem que você analise componentes, soldas e acabamentos em todas as instalações, garantindo a qualidade em cada etapa.

Energia fotovoltaica

A procura por energia renovável continua a aumentar, com a energia fotovoltaica desempenhando um papel importante no aproveitamento do poder do sol. A capacidade de coletar essa energia eficientemente é, em parte, determinada pela qualidade das células solares de filme fino. Garanta que estas células são banhadas de forma precisa e consistente com o XRF microspot para alcançar a máxima eficiência.

Materiais restritos e triagem de alta confiabilidade

Ao trabalhar com uma cadeia de fornecimento global e complexa, é fundamental confiar e verificar os materiais recebidos dos fornecedores. Use a tecnologia XRF da Oxford Instruments para validar as remessas recebidas em conformidade com regulamentos, como RoHS e ELV, seguindo a metodologia IEC 62321 e garanta que os revestimentos de alta confiabilidade sejam aplicados para aplicações militares e aeroespaciais.

 

X-Strata920
Contador Proporcional

FT110A
Contador Proporcional

FT150

SDD de alta resolução Óptica Polycapillary

ENIG ★★☆ ★★☆ ★★★
ENEPIG ★★☆ ★★☆ ★★★

Espessura e composição do níquel não eletrolítico (IPC 4556, IPC 4552)

N/A N/A ★★★

Espessura de níquel não eletrolítico

★★☆ ★★☆ ★★★
Ag de imersão ★★☆ ★★☆ ★★★
Sn de imersão ★★☆ ★★☆ ★★★
HASL ★★☆ ★★☆ ★★★

Solda sem chumbo (por exemplo, SAC)

★☆☆ ★☆☆ ★★★
CIGS N/A N/A ★★★
CdTe N/A N/A ★★★

Análise de filme fino em escala nm

N/A N/A ★★★

Análise de várias camadas

★★☆ ★★☆ ★★★

Triagem RoHS IEC 62321

N/A N/A N/A

Meça recursos< 50 µm

N/A

N/A

★★★

Software de reconhecimento de padrões

N/A

★★★

★★★

Resistência à corrosão

Verifique a espessura e a química dos revestimentos aplicados para garantir a funcionalidade do produto e a vida útil em ambientes agressivos. Manuseie pequenos fixadores ou montagens grandes com facilidade.

Resistência ao desgaste

Evite a falha do produto, garantindo a espessura do revestimento e a uniformidade dos componentes críticos que operam em ambientes abrasivos. Formas complexas, revestimentos finos ou espessos e produtos acabados podem ser medidos.

Acabamento decorativo

Quando o objetivo é alcançar um acabamento impecável, o controlo da qualidade em todo o processo de produção é crítico. Com a linha de equipamentos de teste da Oxford Instruments, você pode inspecionar com segurança materiais básicos, testar camadas intermediárias e superiores.

Resistência à alta temperatura

Os tratamentos de superfície para peças que operam nas condições mais extremas devem ser controlados dentro de tolerâncias apertadas. Garanta que as especificações dos revestimentos são atendidas para evitar recalls de produtos e falhas potencialmente catastróficas.

 

X-Strata920
Contador Proporcional

FT110A
Contador Proporcional

FT150
SDD de alta resolução

Zn / Fe, Fe alloys
Cr / Fe, Fe alloys
Ni / Fe, Fe alloys
★★☆ ★★☆ ★★★
ZnNi / Fe, Fe alloys
ZnSn / Fe, Fe alloys
★★☆ ★★☆ ★★★
NiP / Fe
NiP / Cu
NiP / Al
★★☆

(Somente espessura)

★★☆
(Somente espessura)
★★★

(Espessura e composição)

Ag / Cu
Sn / Cu 
★★☆ ★★☆ ★★★
Cr / Ni / Cu / ABS ★★☆ ★★☆ ★★★
Au / Pd / Ni /CuZn ★★☆ ★★☆ ★★★
WC / Fe, Fe alloys
TiN / Fe, Fe alloys
★★☆ ★★☆ ★★★
Análise de filme fino em escala nm N/A N/A ★★★

Análise de várias camadas

★★☆ ★★☆ ★★★
Triagem RoHS IEC 62321 N/A N/A N/A

Medição independente de distância

N/A ★★★ N/A

Software de reconhecimento de padrões

N/A ★★★ N/A

Comparação de produto

O X-Strata920 pode ser configurado com três estágios diferentes para lidar com uma variedade de formas e tamanhos de amostra. A base padrão permite o posicionamento rápido de amostras de peças pequenas ou finas. A base mini-poço possui uma bandeja móvel que se configura rapidamente para acomodar peças grandes e pequenas (até 15,24 cm/6 pol.). O estágio X-Y motorizado permite a análise automatizada de múltiplas amostras ou múltiplos locais em uma única amostra.

X-Strata920
  • Sistema contador proporcional
  • Faixa de elemento: Ti - U
  • Projeto da câmara: ranhurada
  • Opções de estágio XY: Base fixa, poço profundo, motorizado
  • Maior amostra: 270 x 500 x 150 mm
  • Número máximo de colimadores: 6
  • Filtros: 3
  • Menor colimador: 0.01 x 0.25 mm (0.5 x10 mil)
  • Software SmartLink
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FT110A
  • Sistema contador proporcional
  • Faixa de elemento: Ti-U
  • Projeto da câmara: fechado ou com fenda
  • Opções de estágio XY: Base fixa, motorizado
  • Maior amostra: 500 x 400 x 150 mm
  • Número máximo de colimadores: 4
  • Filtros: 1
  • Menor colimador: 0.05 mm
  • Software X-ray Station 
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FT150
  • SDD de alta resolução
  • Faixa de elemento: Al-U
  • Projeto da câmara: fechado
  • Opções de palco XY: motorizado, bolacha
  • Maior amostra: 600 x 600 x 20 mm
  • Filtros: 1 or 3
  • Polycapillary < 20 µm
  • Controlador XRF
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