극소부 XRF 분석기 | 및 X-Strata

Microspot XRF coating thickness and materials analysers for rapid quality control and validation testing, making it easy to get the right results in seconds.

Coating thickness and materials analysis based on X-ray fluorescence (XRF) is a widely accepted and industry-proven analytical technique, offering easy-to-use, fast and non-destructive analysis, requiring little to no sample preparation, capable of analysing solids or liquids over a wide element range from 13Al to 92U on the periodic table.

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적용 분야

PCB / PWB 마무리 처리

마무리 공정 제어력은 보드의 피치, 신뢰도 및 수명을 결정합니다.  IPC 4556 및 IPC 4552에 따라 무전해 니켈 (EN, NiP) 도금 두께 및 성분을 측정하십시오. Hitachi High-Tech 제품은 엄격한 허용 오차를 적용하여 테스트를 하여 고품질을 보장하고 값비싼 재작업을 방지하도록 해줍니다.

전기 및 전자 부품 도금

요구되는 전기적, 기계적 그리고 환경적 특성을 제공하려면 부품이 사양 범위내에서 도금되어야합니다. X-Strata 및 시리즈 제품의 슬롯형 챔버를 사용하여 작은 부위 또는 연속 스트립을 측정하여 리드 프레임, 커넥터 핀, 전선 종단의 상단, 중간 및 스트라이크 층을 제어합니다.

IC 기판 패키지

반도체는 점차적으로 소형화되고 복잡해져가면서 작은 영역에서 박막을 측정하는 분석 장비를 필요로 합니다. Hitachi High-Tech 분석기는 까다로운 어플리케이션을 위해 고정밀 분석과 재생 가능한 샘플 위치 지정이 가능하도록 설계되었습니다.

전자 제조 서비스 (EMS, ECS)

최종 부품 혹은 제품을 만들기 위해 조달된 부품과 현지 제조 부품의 결합 시 수입검사에서부터 라인 공정 제어 및 최종 품질 관리에 이르기까지 다양한 테스트 포인트가 필요합니다. Hitachi High-Tech 의 극소부용 XRF 제품은 모든 단계에서 품질을 보장하며 시설 전반에 걸쳐 부품, 솔더 및 마감재를 분석하도록 해줍니다.

광전지

광전지가 태양의 힘을 이용하는데 중요한 역할을 하며 재생 가능한 에너지에 대한 수요가 계속 증가하고 있습니다. 이 에너지를 효율적으로 모으는 능력은 부분적으로 박막 태양전지의 품질에 의해 결정됩니다. 최대의 효율성을 발휘할 수 있도록 극소부용 XRF를 사용하여 정확하고 일관되게 도금이 되었는지 확인하십시오.

제한된 성분 및 높은 신뢰성으로 선별

복잡한 국제 공급망과 협조 시 공급업체들로부터 받은 성분을 신뢰하고 검증하는 것이 중요합니다. Hitachi High-Tech XRF 기술로 들여오는 제품이 IEC 62321 방법론을 따르는 RoHS 및 ELV와 같은 규정을 준수하는지 검증하고 우주 항공 및 군사 업계에서 신뢰할 수 있는 코팅이 실행되었는지 확인하십시오.

 

X-Strata 920

비례 계수기

ENIG ★★☆
ENEPIG ★★☆
무전해 니켈 두께 및 구성 (IPC 4556, IPC 4552) N/A
무전해 니켈 두께  ★★☆
이머젼 Ag  ★★☆
이머젼 Sn  ★★☆
HASL ★★☆
무연 솔더 (예. SAC) ★☆☆
CIGS N/A
CdTe N/A
nm 스케일의 박막 분석 N/A
다층 분석 ★★☆
IEC 62321 RoHS 선별 N/A
Measure features < 50 µm N/A
Pattern recognition software N/A

내식성

거친 환경에서 제품의 기능과 수명을 보장하기 위해 적용된 코팅의 두께와 화학 성분을 검증하십시오. 작은 파스너 혹은 큰 부품을 쉽게 다룹니다.

내마모성

마모성 환경에서 작동하는 중요 부품의 코팅 두께와 균일성을 보장하여 제품의 고장을 예방하세요. 복잡한 형상, 얇거나 두꺼운 코팅 그리고 완제품 모두 측정할 수 있습니다.

장식 마무리

완벽한 마무리를 목표로 할 때는 생산 프로세스 전반에 걸친 품질 관리가 중요합니다. Hitachi High-Tech 의 다양한 테스트 장비를 사용하여 기본 성분을 신뢰할 수 있게 검사하고 중간층과 상단층을 테스트할 수 있습니다.

고내열

극단적인 환경에서 작동하는 부품의 표면 처리는 엄격한 허용 오차 내에서 관리해야 합니다. 제품 회수 및 잠재적으로 치명적인 고장을 방지하기 위해 코팅 사양이 충족되었는지 확인하십시오.

 

X-Strata 920

비례 계수기

Zn / Fe, Fe 합금
Cr / Fe, Fe 합금
Ni / Fe, Fe 합금
★★☆
ZnNi / Fe, Fe 합금
ZnSn / Fe, Fe 합금
★★☆
NiP / Fe
NiP / Cu
NiP / Al
★★☆
(Thickness only)
Ag / Cu
Sn / Cu 
★★☆
Cr / Ni / Cu / ABS ★★☆
Au / Pd / Ni /CuZn ★★☆
WC / Fe, Fe alloys
TiN / Fe, Fe alloys
★★☆
nm 스케일의 박막 분석  N/A
다층 분석 ★★☆
IEC 62321 RoHS 선별  N/A
Distance independent measurement N/A
Pattern recognition software N/A

 제품 비교

X-Strata920은 다양한 샘플 모양과 크기를 처리하기 위해 3단으로 구성할 수 있습니다. 표준 베이스는 작거나 얇은 부품의 신속한 위치 설정을 하도록 해줍니다. 작은 웰 베이스에는 작고 큰 부품에 (최대 6")에 맞게 신속히 구성할 수 있는 이동식 트레이가 있습니다. 모터가 달린 X-Y단은 단일 샘플에서 여러 샘플 또는 여러 위치를 자동으로 분석할 수 있습니다.

X-Strata 920
  • 비례 계수기 시스템
  • 요소의 범위: Ti - U
  • 챔버 디자인: 슬롯형
  • XY단 옵션: 고정 베이스, 깊은 우물형, 동력화
  • 가장 큰 샘플: 270 x 500 x 150 mm
  • 최대 콜리메이터의 수: 6
  • 필터: 3
  • 최소 콜리메이터: 0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil)
  • SmartLink 소프트웨어
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