Analyseurs XRF microspot d'épaisseur de revêtements et de matériaux pour un contrôle qualité et des tests de validation rapides permettant d’obtenir facilement les bons résultats en quelques secondes.
L’analyse de l’épaisseur des revêtements et des matériaux basée sur la fluorescence X (XRF) est une technique d'analyse largement utilisée et ayant fait ses preuves dans l’industrie. Elle permet des analyses faciles, rapides et non-destructives ne nécessitant que très peu, voire aucune préparation d'échantillon et elle est capable d'analyser des solides ou des liquides dans une large gamme d’éléments allant du 13Al à 92U sur le tableau périodique.
Obtenir un devis ou une démoLa capacité à contrôler les processus de finition conditionne le pas, la fiabilité et la durée de vie des circuits. Mesure l’épaisseur du nickel chimique (EN, NiP) et sa composition selon les normes IPC 4556 et IPC 4552. Les produits Hitachi High-Tech vous permettent de réaliser vos opérations selon des critères strictes et ainsi de garantir une grande qualité et d’éviter des modifications coûteuses.
Le placage des composants doit respecter des spécifications pour fournir les propriétés électriques, mécaniques et environnementales désirées. Mesurez de petits contacts ou des bandes continues en utilisant la chambre d'analyse avec ouvertures latérales des produits de la gamme X-Strata, F afin de contrôler les couches finales, intermédiaires et de finition des de leadframe, de contacts de connexion, des câbles et de connecteurs.
La complexification et la miniaturisation rapide des semi-conducteurs requiert des équipements d'analyse capable de mesurer de fines couches sur de petits surfaces. Les analyseurs Hitachi High-Tech sont conçus pour fournir une analyse de haute précision et reproduire le positionnement des échantillons pour des applications exigeantes.
Mêler des composants sous-traités à des composants fabriqués localement pour construire un assemblage ou un produit final requiert de nombreux points de contrôle, de la réception jusqu’au contrôle qualité final en passant par le processus de contrôle sur la chaîne de production. Les produits microspot XRF de Hitachi High-Tech permettent d’analyser des composants, des soudures et des finitions dans toute l’usine pour garantir la qualité à chaque étape.
La demande en énergie renouvelable continue de croître et l’énergie photovoltaïque joue un rôle important dans la mise à contribution de l’énergie solaire. La capacité à capter efficacement cette énergie dépend en partie de la qualité des cellules photovoltaïques en couche mince. Contrôler la précision et l’uniformité du placage de ces cellules avec l'analyseur microspot XRF pour obtenir une efficacité maximale.
Lorsque l’on travaille sur une chaîne d’approvisionnement complexe à l’échelle mondiale, il est crucial de faire confiance et de contrôler les matériaux reçus des fournisseurs. Utilisez la technologie XRF Hitachi High-Tech pour vérifier la conformité des marchandises reçues aux normes RoHS, ELV et autres en suivant la méthodologie IEC 62321 et vous assurer de la fiabilité des revetements déstinés à l’aérospatiale et aux applications militaires.
Contrôlez l’épaisseur et la composition des revêtements appliqués pour garantir la fonctionnalité du produit et sa durée de vie dans des environnements difficiles. Analysez facilement des petites pièces ou de gros ensembles.
Éviter les défaillances produits en contrôlant l’épaisseur et l’uniformité des revêtements de composants cruciaux dans des environnements abrasifs. Formes complexes, revêtements fins ou épais et produits finis : tout peut être mesuré.
Lorsque l’objectif est de réaliser une finition parfaite, le contrôle qualité tout au long de la production est essentiel. Avec la gamme des équipements de test Hitachi High-Tech, vous pouvez effectuer des inspections fiables des matériaux de base et tester les couches intermédiaires et de finition.
Les traitements de surface pour des pièces utilisées dans les conditions les plus extrêmes doivent faire l’objet de contrôles stricts. Assurez-vous de la conformité des revêtements à leurs spécifications pour éviter des rappels et des erreurs potentiellement graves.
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Trois variantes du X-Strata920 sont disponibles pour gérer des échantillons de tailles et de formes diverses. La base standard permet de placer rapidement des échantillons fins ou de petite taille. La base Mini-well dispose d’une platine d’échantillons mobile permettant de positionner rapidement des petites et grandes pièces (jusqu’à 6”). La platine motorisée en axes XY permet l’analyse automatique d’échantillons multiples ou de plusieurs points sur un échantillon simple.
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