Analizadores XRF puntuales (Microspot) de grosor de recubrimientos y de materiales para pruebas rápidas de control de la calidad y validación, lo que facilita obtener los resultados correctos en segundos.
El análisis de grosor de recubrimientos y de materiales basado en la fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica analítica ampliamente aceptada y probada en la industria, que ofrece un análisis fácil de usar, rápido y no destructivo que requiere poca o ninguna preparación de muestras, capaz de analizar sólidos o líquidos en una amplia gama de elementos de 13Al a 92U en la tabla periódica.
Obtener una cotización o demostraciónLa capacidad de controlar los procesos de acabado determina la distancia entre conductores, la confiabilidad y la vida útil de las tarjetas de circuito impreso. Mida el grosor y la composición del niquelado no electrolítico (EN, NiP) de conformidad con IPC 4556 e IPC 4552. Los productos de HHA le permiten mantener sus operaciones dentro de estrictos márgenes de tolerancia para garantizar una alta calidad y evitar costosos retrabajos.
Los componentes deben tener un chapado dentro de las especificaciones para proporcionar las propiedades eléctricas, mecánicas y ambientales deseadas. Mida elementos pequeños o tiras continuas mediante el uso de la cámara ranurada de los productos de las series X-Strata para controlar las capas superiores, intermedias y de impacto para las rejillas de conexión, clavijas de conectores, cables y terminaciones.
Los semiconductores son cada vez más miniaturizados y complejos, por lo que requieren un equipo analítico para medir películas delgadas en áreas pequeñas. Los analizadores HHA están diseñados para realizar análisis de alta precisión y posicionamiento reproducible de muestras para aplicaciones rigurosas.
La combinación de componentes comprados y fabricados localmente para construir un ensamble o producto final implica muchos puntos de prueba, desde la inspección de recepción y control del proceso en línea hasta el control de calidad final. Los productos XRF puntuales (Microspot) de HHA le permiten analizar componentes, soldaduras y acabados en toda la instalación, garantizando la calidad en cada paso.
La demanda de energía renovable continúa aumentando, y la energía fotovoltaica juega un papel importante en el aprovechamiento de la energía solar. La capacidad de recolectar esta energía de manera eficiente está determinada, en parte, por la calidad de las celdas solares de película delgada. Asegúrese de que estas celdas estén chapadas de manera precisa y coherente con un XRF puntual (Microspot) para lograr la máxima eficiencia.
Al trabajar con una cadena de suministro global y compleja, es fundamental confiar y verificar los materiales recibidos de los proveedores. Utilice la tecnología XRF de HHA para validar que los envíos entrantes cumplen con la normativa como RoHS y ELV siguiendo la metodología IEC 62321, y asegúrese de que se apliquen recubrimientos de alta confiabilidad para aplicaciones aeroespaciales y militares.
| X-Strata920 | FT110A | FT160
| |
| ENIG | ★★☆ | ★★☆ | ★★★ |
| ENEPIG | ★★☆ | ★★☆ | ★★★ |
| Grosor y composición del níquel no electrolítico (IPC 4556, IPC 4552) | N/A | N/A | ★★★ |
| Grosor del níquel no electrolítico | ★★☆ | ★★☆ | ★★★ |
| Ag por inmersión | ★★☆ | ★★☆ | ★★★ |
| Sn por inmersión | ★★☆ | ★★☆ | ★★★ |
| HASL | ★★☆ | ★★☆ | ★★★ |
| Soldadura sin Pb (por ejemplo, SAC) | ★☆☆ | ★☆☆ | ★★★ |
| CIGS | N/A | N/A | ★★★ |
| CdTe | N/A | N/A | ★★★ |
| Análisis de película delgada en escala nanométrica | N/A | N/A | ★★★ |
| Análisis de múltiples capas | ★★☆ | ★★☆ | ★★★ |
| Evaluaciones RoHS según IEC 62321 | N/A | N/A | N/A |
| Medición de elementos < 50 µm | N/A | N/A | ★★★ |
| Software de reconocimiento de patrones | N/A | ★★★ | ★★★ |
Verifique el grosor y la composición química de los recubrimientos aplicados para garantizar la funcionalidad del producto y la duración de la vida útil en entornos rigurosos. Maneje elementos de sujeción pequeños o ensambles grandes con facilidad.
Evite la falla del producto al garantizar el grosor del recubrimiento y la uniformidad de los componentes críticos que funcionan en ambientes abrasivos. Se pueden medir formas complejas, recubrimientos delgados o gruesos y productos terminados.
Cuando el objetivo es lograr un acabado impecable, el control de calidad en todo el proceso de producción es esencial. Con la gama de equipos de prueba de HHA, usted puede inspeccionar confiablemente materiales de base y probar las capas intermedias y superiores.
Los tratamientos superficiales para piezas que funcionan en las condiciones más extremas se deben controlar dentro de tolerancias rigurosas. Asegúrese de que se cumplan las especificaciones de los recubrimientos para evitar retiros de productos y fallas potencialmente catastróficas.
| X-Strata 920 | FT110A | FT160 | |
| Aleaciones de Zn/Fe, Fe | ★★☆ | ★★☆ | ★★★ |
| Aleaciones de ZnNi/Fe, Fe | ★★☆ | ★★☆ | ★★★ |
| NiP / Fe NiP / Cu NiP / Al | ★★☆ | ★★☆ (Solo grosor) | ★★★ (Grosor y composición) |
| Ag / Cu Sn / Cu | ★★☆ | ★★☆ | ★★★ |
| Cr / Ni / Cu / ABS | ★★☆ | ★★☆ | ★★★ |
| Au / Pd / Ni /CuZn | ★★☆ | ★★☆ | ★★★ |
| Aleaciones de WC/Fe, Fe | ★★☆ | ★★☆ | ★★★ |
| Análisis de película delgada en escala nanométrica | N/A | N/A | ★★★ |
| Análisis de múltiples capas | ★★☆ | ★★☆ | ★★★ |
| Evaluaciones RoHS según IEC 62321 | N/A | N/A | N/A |
| Medición independiente de distancia | N/A | ★★★ | N/A |
| Software de reconocimiento de patrones | N/A | ★★★ | N/A |
Con una resolución superior y SDD de alta eficiencia, es el instrumento ideal para medir los recubrimientos más delgados y la composición de elementos a nivel de traza (oligoelementos). Con hasta 6 filtros primarios y 8 colimadores, puede abordar las aplicaciones más desafiantes. El diseño de cámara ranurada gigante es ideal para muestras pequeñas, grandes o largas. La configuración de hardware optimizada permite el análisis directo de %P en aplicaciones de níquel no electrolítico.
El X-Strata920 se puede configurar con tres etapas diferentes para manejar una diversidad de formas y tamaños de muestras. La base estándar permite la colocación rápida de muestras de piezas pequeñas o delgadas. La base de mini-foso tiene una bandeja móvil que se configura rápidamente para adaptarse a piezas pequeñas y grandes (hasta 6"). La mesa X-Y motorizada permite el análisis automatizado de múltiples muestras o ubicaciones múltiples en una sola muestra.
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