CMOS 检测器 | 火花OES分析仪

互补金属氧化物半导体（CMOS）检测器能将火花直读光谱仪（OES）分析提升至全新水平。CMOS技术是光电倍增管（PMT）（在一些金属分析仪中用于高端分析）的替代方案。在一些场景中，可将CMOS技术选作OES应用场景的解决方案。

我们列出了您下次购买火花光谱仪时需要考虑基于CMOS的火花光谱仪的四大原因。

直读光谱仪是一项投资。此外，从历史上看，更先进的仪器包含多个光电倍增管，覆盖宽的波长范围以检测许多不同元素。由于PMT价格昂贵，因此包含PMT的这类仪器也很昂贵。CMOS检测器替代仪器的成本要低得多，且能覆盖的元素和波长范围更宽。

PMT检测器的工作性能非常出色，可测量含量超低的特定元素。但由于仅针对少数入射光波长优化每个检测器，因此每个PMT检测器将只能提供一个通道的结果。

如果需要测量各种材料中范围更宽的杂质元素和痕量元素，则可投资购买配备很多个检测器的仪器，但价格会很昂贵（见上述第1点）。基于CMOS的检测器将测量更宽的光谱范围，由此可检测样品中是否存在更多元素。

如今，新合金开发活动与以往一样活跃。从开发用于提高燃油经济性的高强度、轻质材料，到植入后为人体所接受的医疗器械，不断出现新的材料规格和客户需求。

如果您选择的OES仪器所配备的PMT检测器已针对您目前所做工作予以优化（这对于您目前的应用场景来说可能很好），则在采用新应用场景的情况下，您可能会发现您目前所用的仪器实际上已过时。通过选择基于CMOS的仪器，可让您在未来有持续不断的选择机会。

铸造厂、金属生产厂和制造厂的营运成本很高。更糟糕的是，原材料和回收原料的价格可能因全球市场的不同而存在较大差别。因此，铸造厂为保持尽可能低且可预测的所有其他成本而面临较大压力。

基于CMOS的OES仪器的操作成本往往低于其PMT同类仪器，因为CMOS技术仅需极少功率即可操作。我们的OE系列OES火花光谱仪进一步降低真空泵的功耗，并大幅减少分析期间所需的氩气量。

所有这些方面都与检出限有关

如今，如果进行的分析需要的检出限低于使用CMOS检测器时所提供的检出限，则可能仍然需要基于PMT的检测器。对于使用基于CMOS的检测系统的日立OE系列，我们发布了应用指南，其中提供了不同基体合金的检出限表。本文以钢铁为例。

您可以看到检出限极低，但您必须为自己的应用场景选择正确的检测器技术，如果存在检出限要求，则您仍可能必须依赖于PMT检测器。

日立OE系列直读光谱仪将基于CMOS检测器的范围、灵敏度与全新光学设计相结合，提供通常只有成本更高的仪器才能达到的高性能。OE系列具有较低的操作成本和相对较小的占地面积，可用OE750检测金属中的所有元素（包括气体元素）。

欲知有关OE系列的更多信息，请访问日立官网，或者与我们的专家联系获悉OE系列相关介绍。

您可能会对以下内容感兴趣：

超越传统电池：氢燃料电池如何驱动重型运输行业发展

火花OES用于金属注射成型

迎接未来的可再生能源电网，需要什么样的电子电力技术？