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材料往往经过镀层或电镀处理，以改善其功能特性并延长预期使用寿命。必须将镀层的厚度控制在既定的规格范围内。如果镀层过薄，则最终组件可能会由于腐蚀、磨损或者电子元件的不良电接触而在实际使用中过早失效。镀层过厚会影响复杂组件（如发动机零件）的装配方式。对于饰面镀层而言，正确的厚度对于确保成品适宜的外观至关重要；如果镀层厚度有误，则需要对整个组件进行返工或使其报废。
我们面临的挑战在于如何准确可靠地测量成品组件的镀层厚度。在实际应用领域中可能需要分析几层镀层，并且测量过程不得以任何方式损坏或影响组件的外观。由于台式XRF镀层测厚仪和磁感应接触测厚仪脱颖而出的优势在于其能提供可靠、准确且无损分析，因此其采用的分析技术可以在几秒钟内提供分析结果，允许客户对镀层组件或成品组件进行关键部件测量。
多功能台式XRF专门用于分析具备各种形状和尺寸的样品。可将X-Strata920配置成容纳各种不同的样品，包括电子元件、连接器、饰层和电镀或镀锌组件。此款仪器有六款内置准直器，且具备探测器选型功能，可以根据客户的具体应用领域对其进行定制。
FT110A是一款台式XRF光谱仪，专用于大批量生产。其所具备的强大X射线源、大型样品舱和自动定位功能都有助于提高生产量，同时保持高精度和高性能。FT110A能够测量多达四层镀层和基材，是量产质量控制的强大工具。
FT230 旨在简化和加速零件和组件的测试，从而更轻松地在更短的时间内测量更多零件。 FT230 具有 Find My Part™ （查找我的样品）智能识别、自动样品聚焦和广角摄像头等功能，可减少设置时间和用户失误操作，从而提高通量和生产力。 让您的 XRF 设备为您做决定。
FT160是一款高性能台式XRF光谱仪，专用于应对在当今电子元件微小特定测点上进行高精度镀层厚度测量所面临的挑战。借助多毛细管光学系统和先进的探测器技术，客户能够测量小于50 µm的特定测点上的纳米镀层。
此款手持式XRF光谱仪提供快速、无损的现场检测，以测量镀层厚度和重量。当在实际情况下不宜使用台式仪器时，还可以使用该仪器批量分析样品。
日立推出的数字镀层测厚仪系列包括简便的手持式仪器、高端台式仪器等，适用于对含铁基材上的电镀和镀锌层进行快速、无损检测。
日立推出的油漆和粉末镀层测厚仪系列还可以测量铝材的阳极氧化处理层厚度。此款仪器可以测量各种保护镀层，包括聚合物、环氧树脂、树脂和橡胶。
日立供应的各种PCB铜层测厚仪适用于测量铜箔和铜板厚度、表面铜层厚度和通孔铜层厚度。此类仪器非常适合进货检验和过程控制，有五种不同的型号可供选择。
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随着机器变得越来越智能和自主，制造商们正在全面拥抱工业4.0。
使用镀层XRF（X射线荧光）设置测量涉及几个步骤，但聚焦（正确设置X射线管，零件和检测器之间的几何形状）是最关键的，因为它直接影响结果的准确性。
我们最近采访了我们的镀层分析仪产品经理Matt Kreiner，了解他如何成为镀层分析仪负责人、FT230 XRF镀层分析仪的设计灵感以及镀层市场的最新创新。
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