20世纪的软件仍被用于21世纪的生产工艺

随着机器越来越智能化、自主化,制造商们正全面拥抱工业4.0时代。电镀行业早在数十年前便已开始采用自动化技术,自那以后,自动化技术在作业跟踪、调度、材料搬运、数据管理和报告生成等方面的应用与日俱增。

但是,在质量控制方面,集成整合的速度却非常缓慢,通常实验室设备依然是独立运作的。如今,许多材料分析仪已具有数据连接功能FT230台式XRF(X射线荧光)分析仪更容易使镀层测量靠近镀层生产线,也能更加快速地向决策者提供分析结果,以确保质量控制能与生产同步。

20世纪的软件仍被用于21世纪的生产工艺?

 

我们可以提供以下四种方法助力解锁工业4.0时代的数据和诊断解决方案:

1. 轻松集成至镀层生产线

FT230具有被称为FT Connect的全新用户界面以及基础软件架构,比其他任何软件更易于将XRF集成至您的镀层生产线中。FT230专门配有开槽样品室,允许连续的镀层生产线直接在X射线管和探测器下经过。在X-API的帮助下,可按需触发测量,即以预设频率或流水线暂停以使零件置于XRF下启动测量。即使仪器未联网,也能以类似方式工作:首先利用自动化机器将零件放入FT230的样品室,再根据测量模式和要求对零件进行测量。

2. 快速获得分析结果

如果您还未准备好进行自动化QC测试升级,则FT230的许多功能可助您更快获得分析结果。尽管XRF分析速度一直很快(通常只耗时几秒钟),但是,在开始进行分析前,操作员需花费几分钟做样品设置。他们需要决定需使用的具体校准曲线、合适的光斑尺寸、测量位置、关于对焦每个位置的最佳方式以及分析完成后依据结果需对生产线做出的处置等。

FT230具有自动对焦和Find My PartTM (查找我的样品)功能,可在大约数秒钟内完成所有工作。

自动接近功能可测量从X射线管到零件之间的距离,并自动将X射线管移动到预定义的工作距离。自动对焦(有时又称“与距离无关的测量”)也会测量从X射线管到零件之间的距离,但不会移动X射线管,而是将X射线管保持在相同的高度,并使用测得的距离来校正几何计算模式获得正确结果。两种方法均有各自的用途,使用任一种方法都可以大大提高测试程序的速度,每年可节省一到两周时间;如果同时采用两种功能,则每年可节省长达三周时间。

对于Find My PartTM (查找我的样品),操作员可通过名称、二维码或条形码扫描(由ERP系统设置)或机器视觉来启动拟测量零件程序,而整个测量程序(包括数据处理和报告)运行自动设定模式并准备就绪。由此可在一年内节省数天的样品设置时间,并缩短从拉出零件进行分析到在需要调整镀层生产线情况下做出相关决策的时间。

3. 更快向决策者提供数据

无论仪器是联网还是脱机,您都希望尽快获得XRF镀层分析结果,并将其置于指定位置。这可能就像提交给客户的报告一样简单,或者是将数据放入网络文件夹,由质量经理编辑、审核,也可能是将数据发送到质量管理系统(QMS)、监测控制和数据采集(SCADA)系统或者直接发送到制造执行系统(MES)。

FT230能在上述方面为您保驾护航。这款仪器可在各次测量或者各批次测量结束时自动将分析结果以电子表格或者JSON格式发送至本地或网络位置。对于报告的数据,可从FT Connect对其进行配置,使其包含您需要的信息。

4. 监测仪器健康状况

集成式智能工厂的一个重要方面是监测仪器健康状况,从而预测故障并规划必要服务以便于您重新排程,而不是在意外停机时做出反应。

FT230具有多项功能,可协助完成上述健康评估。

健康检查

这款仪器配有参比标准件,用于健康检查,即X射线管和探测器等关键部件的状况检查。

日常检查

仪器还配有日常检查程序,用于一段时间内校准曲线结果的比较,以确定仪器是否存在需注意(即需重新校准或硬件维护)的任何漂移情况。

机载诊断

机载诊断程序将运行额外测试,旨在收集更多关于仪器状态的综合信息。诊断数据可以通过电子方式(如直接通过日立自有的安全云基服务软件ExTOPE Connect)共享给日立的技术工程师。

这是日立工程师获得相关数据的最快方法,由此他们无需亲临现场即可对您的仪器进行审查并查明确切的问题区域,有助于确保工程师使用正确的零件并使您的仪器尽快恢复运行。

通过FT230的这些最新功能,我们使客户获得数据管理和分析能力以降低故障率,减少报废和浪费,并成为更加智能、更加高效的可持续发展企业。

是否已准备好了解我们如何助您实现企业数字化转型了吗?

发现更多 联系我们

 

您或许对以下内容感兴趣:




分享博客

日期: 19 July 2022

作者: Matt Kreiner, Product Manager – Coatings Analysis

分享博客

Blogs


与销售主管Matt Barns就所有废金属相关事宜进行问答

阅读更多

20世纪的软件仍被用于21世纪的生产工艺

阅读更多

自动对焦如何节省XRF镀层分析时间

阅读更多