日立分析仪器邀您相约CPCA 2022

深圳国际会展中心(宝安区)

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CPCA 2022,10月12-14日,深圳

由国家工业和信息化部支持,中国电子电路行业协会、上海颖展展览服务有限公司主办的2022国际电子电路(华南)展览会 INTERNATIONAL ELECTRONIC CIRCUITS (South China) EXHIBITION 将于2022年10月12-14日在深圳国际会展中心(宝安区)举办。

日立分析仪器 FT 系列、EA系列、X-MET 和 X-Strata920 XRF光谱仪提供快速、无损检测,以解决在小型化电子器件中实现一致和精确的镀层的挑战。

日立展位:待定

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CPCA 2022 预约现场样机演示

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镀层测厚仪产品比较

我们的XRF光谱仪提供快速、无损检测,以解决在小型化电子器件中实现一致和精确的镀层的挑战。

  • 正比计数器或高分辨率 SDD
  • 元素范围:钛 - 铀,或铝 - 铀(SDD)
  • 样品舱设计:开槽式
  • XY 轴样品台选择: 固定台、加深台、自动台
  • 最大样品尺寸:270 x 500 x 150毫米
  • 最大数量准直器:6
  • 滤光片:1
  • 最小的准直器:0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)
  • SmartLink 软件
询价或预约演示
  • 正比计数器系统
  • 元素范围:钛 - 铀
  • 样品舱设计:开闭式或开槽式
  • XY 轴样品台选择: 开闭式固定台、开闭式程控台、开槽式固定台、开槽式程控台
  • 最大样品尺寸:500 x 400 x 150 毫米
  • 最大数量准直器:4
  • 滤光片:1
  • 最小的准直器:0.05 毫米
  • X-ray Station 软件
询价或预约演示
  • 高分辨率 SDD
  • 元素范围: 铝 - 铀
  • 样品舱设计:开闭式
  • XY 轴样品台选择:自动台、晶片样品台
  • 最大样品尺寸:600 x 600 x 20 毫米
  • 滤光片:5
  • 毛细聚焦管 < 30 µm
  • XRF控制软件
询价或预约演示
 

X-Strata920
正比计数器

X-Strata920
高分辨率 SDD

FT110A
正比计数器

FT160
高分辨率 SDD
毛细管聚焦光
学系统

ENIG ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
ENEPIG ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
非电镀镍厚度和组成 (IPC 4556, IPC 4552) ★★☆ ★★★
非电镀镍厚度 ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
浸镀银 ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
浸镀锡 ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
HASL ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
无铅焊料(如 SAC) ★☆☆ ★★☆ ★☆☆ ★★★
CIGS ★★☆ ★★★
CdTe ★★☆ ★★★
纳米级薄膜分析 ★★☆ ★★★
多层分析 ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
IEC 62321 RoHS 筛选
检测特征 < 50 µm  ★★★

模式识别软件

★★★ ★★★

接触式镀层测厚仪

我们同时提供一系列手持式镀层测厚仪,用于印刷电路板和表面铜厚度测量。

这些印刷电路板和表面铜厚度测量仪器的常见测量应用包括:

  • 铜箔和覆铜板铜厚度
  • 表面铜厚度
  • 孔铜厚度

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如果您有问题,或需要报价及演示,请填写以下信息。