日立分析仪器为台式光谱仪系列新增强大解决方案,以应对涂镀层行业的常见挑战

日立分析仪器是日立高新技术公司(TSE:8036)旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日,日立分析仪器为台式光谱仪系列新增强大解决方案,以应对涂镀层行业的常见挑战。

FT系列涂镀层测厚仪旨在对生产质量控制发挥关键作用,其在金属饰面处理和电子市场中的具有广泛应用。FT110A 和 FT150 系列为复杂形状的大型零件测量以及小型特征超薄涂层测量提供了新型解决方案。这两种仪器均属于台式 EDXRF(能量色散X射线荧光)光谱仪,具有功能强大的软件和硬件,旨在提高样品分析量,任何操作员都可获得高质量的结果。

FT110A

FT110A

FT150

FT150

轻松处理复杂样品

FT110A 包含多个特征,用于测量通常难以处理的零件。可配置全封闭或开槽门的大型腔室,可装入汽车零部件和装饰五金件,与处理小型紧固件一样容易。自动对焦程序可以在离样品表面 80mm 的位置进行测量,非常适合测量凹陷区域或快速测量不同高度的多个零件。自动接近功能提供一键式定位功能,可将X射线组件设置在理想距离,以获得有复验性的结果。宽视角摄像头将呈现整个样品的图像,以便轻松定位所需的测量位置。只需点击图像中的特征,它将自动对准进行分析。

测量纳米级的涂层

FT150 配置高端组件,可以提供精细结构上的超薄涂层的元素分析。毛细聚焦管聚焦X射线束直径小于20μm,实现在样品上聚焦更大强度,并测量小于传统准直器可测量的特征。高灵敏度、高分辨率Vortex®硅漂移探测器(SDD)充分利用光学元件测量微电子设备和半导体上的纳米级涂层。高精度载物台和具备数字变焦功能的高清摄像头可快速定位样品特征,以提高样品分析量。

日立分析仪器产品经理 Matt Kreiner 表示:“受到40年XRF镀层测厚仪研发经验启发,FT110A 和 FT150 使用的智能功能解决了涂镀层分析中最难的一些挑战。FT110A 的样品处理能力和 FT150 的微焦分析能力补全了我们全套涂镀层测厚仪系列,我们很高兴为客户提供这些新型解决方案。”

关于日立高新技术公司

日立高新技术公司总部位于日本东京,从事科学和医疗系统、电子设备系统、工业系统和先进工业产品等广泛领域的活动。公司2017财年的综合销售额约为6877亿日元(约合63亿美元)。

关于日立分析仪器公司

日立分析仪器是2017年7月成立并隶属于日立高新技术集团的全球性公司,总部位于英国牛津。其研发和生产运营部门位于芬兰、德国和中国,在全球许多国家可提供销售和支持服务。我们的产品系列包括:

  • FT系列、X-Strata 和 MAXXI 微焦斑 XRF 分析设备可测量单层和多层合金涂层厚度,可应用于质检和过程控制和科研实验室。

  • Lab-X5000 和 X-Supreme8000 台式 XRF 分析仪可为石油、木材处理、水泥、矿物、采矿和塑料等多种行业提供质量保证和过程控制。

  • 我们的 PMI-MASTER、FOUNDRY-MASTER 和 TEST-MASTER 系列直读光谱仪被世界各行各业用来进行快速和精确的金属分析。这些仪器采用光学发射光谱技术可测定所有重要元素,其检测限低,精度高,包括钢中的碳和几乎所有金属中所有技术相关的主要元素和微量元素。

  • X-MET8000 手持分析设备,采用高精度 XRF 技术,可为很多行业提供简单、快速和无损的合金分析,包括废旧金属分拣和金属品级筛选。

  • Vulcan 手持分析设备,采用 LIBS 激光技术,可一秒检测金属合金,为检测量大的金属行业客户提供了最佳检测解决方案。

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Date: 4 June 2018

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