OE系列:以合理价格提供卓越的性能

日立的OE系列火花直读光谱仪的目标是大幅提高仪器性能的同时将价格保持在合理范围内。在检出限极低的情况下分析金属中的所有主要元素,我们通过OE系列革命性的新技术确实做到了这一点。本文解释了为什么回归本原有助于降低成本。

 

LightWing光学系统

分析仪内部的光学系统布局的设计已完全改变。仪器包含多块检测器,并将探测器放在单一焦平面上。这能大幅提高分辨率,重新设计的光学系统也能减少外壳的整体体积。这反过来能减少操作过程中的氩气消耗量,有助于降低成本。另一个好处是启动时间更短,有助于提高生产率。

CMOS检测器技术

如前文所述,我们已经包含多个以特定方式配置的检测器。但这还不是全部,实际上我们还重新设计了检测器,并使用最先进的CMOS技术。这使每个检测器的分辨率和动态范围更高,意味着与传统CCD检测器相比,我们需要的探测器数量更少。现代CMOS技术在极低检出限下也很稳定,是OE系列所具备的ppm范围检测能力的一个因素。

重新设计的火花光源降低能耗成本

火花直读光谱仪的用户知道,火花本身会产生大量热,并消耗大量电能。我们减少了OE系列所需的余热和能量,从而提高电光转换效率,降低运行成本。这也意味着我们可以纳入一个直流电源,用于隔离仪器主电源——这一点很重要,因为如果主电源波动的话会影响性能。

通过减少维护以优化环境稳定性

由于获得在OE系列的设计中进行整体改变的机会,由此我们能够观察技术的各个方面,包括氩气如何随着时间的推移而影响结果。我们知道,对于非常短的波长(小于200nm),光强会逐渐降低,因此很难获得某些元素的结果。OE750通过使用中压力氩气净化系统克服了这一点,该环境随着时间推移提供更好的稳定性和强度。这意味着系统可以用无油泵运行,从而降低功耗并减少标准化的需要。

火花台是单独的密封装置

火花台的任何泄漏或连接不完全都会影响仪器性能。如果火花台中进入空气,会影响结果,进入灰尘会增加清洁的需要。解决办法是将光学系统和火花台密封在单台装置中,使空气或灰尘无法进入。这也可以使等离子体源更好地传导到检测器上,从而提高分辨率。已对密封装置的氩气流进行优化,这也有助于降低氩气消耗量。

OE系列的上述技术创新可使用户在价格合理的仪器中获得全面ppm级性能的金属分析,运营成本也得以降低。

OE系列:两种分析仪可供选择

OE系列的两种仪器都受益于相同的高性能和极高的成本效益。OE720非常适合低检出限,或者可选择OE750达到更低的检出限,并为用户的工具包添加氮、氧或氢分析功能。

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日期: 6 May 2021

作者: Michael Molderings, Product Manager OES

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