镀层的测厚方法实战经验分享及案例解析 | 网络讲堂

讲座内容主要介绍几种主流的膜厚测量方式，从多角度介绍不同测厚方法的优劣，包括电解法（库仑法）、金相法、X射线荧光法等。镀层XRF分析仪是一个有价值的电镀过程控制工具。它快速，易于使用和准确，并允许您监控和调整您的电镀产线，以确保高质量。

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日期: 23 September 2019

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