网络讲堂:镀层的测厚方法实战经验分享及案例解析

讲座内容主要介绍几种主流的膜厚测量方式,从多角度介绍不同测厚方法的优劣,包括电解法(库仑法)、金相法、X射线荧光法等。镀层XRF分析仪是一个有价值的电镀过程控制工具。它快速,易于使用和准确,并允许您监控和调整您的电镀产线,以确保高质量。

观看视频前请先注册
注册详情
联系我们


分享博客

日期: 23 September 2019

作者:

分享博客

Blogs


动态机械分析(DMA):解锁下一代复合材料性能的关键技术

阅读更多

材料分析如何提高塑料的可持续性?

阅读更多

回收利用与绿色钢铁行业:废料场如何在实现2030年可持续发展目标的同时保持竞争力?

阅读更多