网络讲堂:镀层的测厚方法实战经验分享及案例解析

讲座内容主要介绍几种主流的膜厚测量方式,从多角度介绍不同测厚方法的优劣,包括电解法(库仑法)、金相法、X射线荧光法等。镀层XRF分析仪是一个有价值的电镀过程控制工具。它快速,易于使用和准确,并允许您监控和调整您的电镀产线,以确保高质量。

观看视频前请先注册
注册详情
联系我们


分享博客

日期: 23 September 2019

作者:

分享博客

Blogs


与销售主管Matt Barns就所有废金属相关事宜进行问答

阅读更多

20世纪的软件仍被用于21世纪的生产工艺

阅读更多

自动对焦如何节省XRF镀层分析时间

阅读更多