应用报告:X-Strata920提供铬镀层分析

日立分析仪器X-Strata920是一款基于高分辨率硅漂移探测器(SDD)的高性能、紧凑、坚固和可靠的质量控制分析设备,提供简单、快速的镀层厚度和成分分析,符合国际检测方法ISO 3497和ASTM B568。

X-Strata920使用能量色散X射线荧光 (EDXRF) 的无损分析技术来产生样品的X射线光谱。该元素X射线光谱通过提供的基本参数法(FP)或经验系数法软件来进行镀层厚度或成分分析。X-Strata920配有一系列不同的样品舱和底座来满足不同形状和尺寸的样品。

 

所有样品舱配置都是开槽式,便于快速加载扁平或薄的样品,例如线路板和电线。激光聚焦确保可重复的样品放置,以获得所有操作员的一致结果。可选的程控样品台使自动测量多样品或单个样品上的多个特征变得容易,还可以执行扫描以获取凹凸表面的代表性分析。准直器可选配,以确保适用各种尺寸配件,提供最佳性能。


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日期: 3 September 2018

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