X-Strata920 | 灵活多用途的台式XRF镀层测厚仪

精确的镀层和珠宝分析

X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 分析仪,具有多种选择,可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的镀层,是必须确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析的理想选择。

X-Strata920 的优势在于其多功能性。您可以从多种配置中进行选择,包括五种基本配置以适应不同尺寸的样品、六种准直器尺寸用于优化分析不同尺寸的特征,以及有助于加快测量过程同时保持准确性的附加自动化功能。X-Strata920 易于使用,软件直观,可由非专业人员操作,并可轻松融入您的生产或质量保证部门。

产品亮点

X-Strata920 具有多种选项和多功能性,可容纳各种样品,每次都能提供精确的分析。

  • 适应性设计,可对各种产品进行可靠分析
  • 自动对焦和可选的程控台提高了准确性和速度
  • 直观的 SmartLink 软件使测量和导出数据变得容易
  • 多准直器设计为每个样品提供高准确性
  • 选择适合应用的比例计数器或硅漂移检测器 (SDD)
  • 符合行业规范,例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987
  • 简单的样品加载和快速分析可在几秒钟内提供结果
  • 强大的光学分析单层和多层镀层,包括合金层

对比型号

 

X-Strata920 (正比计数器)

X-Strata920 (硅漂移探测器)

元素范围

Ti – U

Ai – U

样品舱设计 开槽式 开槽式
XY 轴样品台

固定台、加深台、自动台

固定台、加深台、自动台

最大样品尺寸 250(宽)x200(深)x50(高)mm 250(宽)x200(深)x50(高)mm

最大准直器数

6 6

最大滤光片数

3 (secondary) n/a

最小准直器

0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil)

0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil)

最大样品台行程

178 x 178 mm

178 x 178 mm

SmartLink 软件

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