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精确的镀层和珠宝分析
X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 分析仪,具有多种选择,可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的镀层,适合用于确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析。
X-Strata920 的优势在于其多功能性。您可以从多种配置中进行选择,包括五种基本配置以适应不同尺寸的样品、六种准直器尺寸用于优化分析不同尺寸的特征,以及有助于加快测量过程同时保持准确性的附加自动化功能。X-Strata920 易于使用,软件直观,可由非专业人员操作,并可轻松融入您的生产或质量保证部门。
X-Strata920 具有多种选项和多功能性,可容纳各种样品,每次都能提供精确的分析。
X-Strata920 (正比计数器)
X-Strata920 (硅漂移探测器)
Ti – U
Ai – U
固定台、加深台、自动台
最大准直器数
最大滤光片数
最小准直器
0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil)
最大样品台行程
178 x 178 mm
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