X-Strata920

XRF 镀层测厚仪

最高精确度,最少浪费

若不足一微米在您的镀层测量业务成败中举足轻重,则请选择X-Strata920。

您可选择比例计数器或硅漂移探测器(SDD),确保拥有正确配置。

如果您从事电子或金属表面处理,我们可提供适合您业务的解决方案。X-Strata920提供多种配置,可分析单层和多层镀层(包括合金层)。

我们的内部应用专家对X-Strata920进行了优化,确保您获得可靠、可重复结果以满足百种应用,包括:PCB表面处理、连接器镀层、耐腐蚀性处理、装饰表面处理、耐磨损处理和耐高温处理等。

询价或预约样机演示

下载样本

下载样本获取更多信息和技术规格。

现在下载

四种样品台配置

您可以分析任何形状的部件样品。

基于X - Stata920配备的四种基座配置,您可以分析任何形状的部件样品。

  • 开槽式设计的标准固定台或加宽固定台既适用于小样品也同样适用于细长样品
  • 井深式样品室可灵活的应用于测量较高的样品
  • 选择电动可编程样品台,则可自动测量多个样品或单个样品上的不同测量位置

获取更多信息,报价或预约样机演示

如果您需要更多X-Strata920信息,请联系我们的销售团队。

我们会通过电子邮件定期发送最新讯息。请选择是否同意我们通过电子邮件联系您。 *