镀层厚度测量 | XRF | 日立分析仪器

XRF分析是一种成熟、值得信赖的可靠技术，可用于测量从珠宝到工程设备等各种部件的镀层厚度。作为质量控制流程的一个关键部分，您很可能会依靠XRF的测试结果来控制流程，并在发货前测试成品部件的质量。然而，虽然XRF是一种可靠的技术，但它也很容易得到错误结果，尤其是对于镀层厚度测量。在这篇文章中，我们将讨论您的XRF测量出错的原因，以及您可以采取的预防措施。

XRF错误的源头

一般来说，测量出错有两种原因：要么您的仪器有问题，要么您的测量方法有问题。我们先来看看仪器方面的问题。

如何确保您的XRF工作正常

XRF分析仪是一种精密仪器，在其使用期内–从您完成常规检查到制造商年检都需要小心使用。这是您确保XRF提供正确结果所需的必要工作。

常规仪器检查 常规仪器检查由操作员按照制造商建议的时间间隔进行。此类检查会监测仪器的内部性能，如X射线探测器强度、探测器分辨率和探测器增益。如果发现细微变化，仪器会自动进行调整。而如果变化超出预期，您的分析仪会发出警报，此时需要联系制造商。遵守制造商建议的检查间隔是很重要的——如果时间间隔太长，就会错失发现细微变化的时机，如果时间间隔太短，分析仪可能会过度矫正，因此也可能带来错误。 
校准进行常规仪器检查之后，在使用XRF分析仪进行质量控制之前，您需要验证您的校准。您可以使用已知的生产零件或参考样（也称为标准样）。重要的是，此类参考样须从经认证的供应商处购买，最好定期由ISO 17025认可实验室对其进行重新认证。  
仪器认证 作为仪器年检的一部分，建议您让原始制造商对您的XRF分析仪进行重新认证，确保敏感部件正常工作。这通常由专业工程师进行，其将进行全面诊断并提出相应建议。

可能导致误差的分析错误

即使使用设置完美的仪器，在进行测量时，还会有其他因素可能导致错误。

未履行样品对焦 确保样品被正确对焦是测量过程中的一个关键步骤。确保X射线管、样品和探测器彼此之间的距离固定，这对于准确的镀层厚度结果至关重要。如果X射线管、样品和探测器彼此之间的距离太大，则镀层会变薄，反之亦然。如果您要测量多层镀层，错误就会叠加。      
基底变化 基底内的其他元素会干扰镀层间的X射线相互作用。这意味着产生的X射线信号与正确的镀层厚度无法关联。好在目前这种影响已被充分认识理解，所以如果您使用与您的实际基底非常相似的材料进行校准，则可补偿这种影响。本质上，您的基底材料需与您的校准参考样非常相似。  
超出校准范围的测量 您仪器的校准是针对有限范围内的镀层厚度和成分进行优化。在较大范围内，镀层厚度和X射线强度之间的关系不是线性的，因此您不能保证在仪器校准范围之外也获得可靠的结果。您的XRF制造商能够告诉您校准的测试极限，并且您也可以在软件上设置警告，如果测量值超出“安全”范围，就会提醒操作员，如此您可以确保始终在校准极限范围内进行测量。

这些只是减少电镀部件的XRF测量错误的一些方法。在我们专门为电镀车间编写的指南《了解您的XRF：电镀车间指南》中，我们对此问题以及XRF分析的其他领域有更详细的介绍

该指南完全免费，您可以在下面下载。除了深入了解关于可能引入XRF错误的更多细节，您还会了解到：