选择LAB-X5000进行离型膜质量控制的5大原因

测量离型膜上的硅涂布量是生产过程中质量控制的一个重要方面。如果涂覆的硅太少,则粘合层将永久地粘在基底上,而涂覆过多则会增加生产成本,且不会进一步提高产品质量。为了控制硅涂层厚度,行业通常使用台式X射线荧光(XRF)分析仪,例如,日立LAB-X5000,因为这些分析仪可提供经济、高效、可靠的无损分析。使用这些分析仪,操作员可快速调整生产过程,并有助于降低材料成本,同时最大限度地提高产量。

 

LAB-X5000的五大优势:

1.方便:一次校准即可适用于所有纸张类型

使用LAB-X5000,可将玻璃纸校准用于其他纸张类型,包括粘土涂层纸张,而不会有损精确度。在用标准玻璃纸进行单次校准后,当移动到新的纸张类型(或新的纸卷)时,您只需测量新类型纸张的“空白”无涂层。测量涂层样品以及对新基底进行自动补偿时,XRF设备使用这一测量值作为“校正因子”。

2.具有成本效益:无需氦气

XRF设备通常使用氦气来确保测量硅(Si)等轻元素的稳定性。LAB-X5000包含智能功能,可自动补偿大气温度和压力的变化(否则会影响结果),并提供可靠结果,完全不需要氦气。这意味着获得、储存和使用氦气的成本和困难完全消除。

3.可靠结果:自动针对潜在不均匀涂层表面获得平均结果

硅层涂覆工艺并非100%完美,并且可能出现涂层纸张上硅厚度的微小变化。此外,XRF分析仪通常只测量纸张样品上一小部分区域,这种微小变化可能会呈现测试结果的差异。LAB-X5000配备有样品自旋器,该自旋器在X射线管和探测器上方旋转样品,以测试更宽的区域并获得平均读数。无论样品在分析仪中的位置如何,操作员都能就该样品获得相同的结果。

4.专用设计:坚固、快速且易于使用

本设备尺寸小巧,可以安装在工作台上,并且坚固耐用,能够承受典型的生产环境,从而最大限度地延长正常运行时间。最少的操作员培训:只需使用所提供的盘形铣刀即可制备样品。操作员只需将纸盘放入支架中,并将支架放入分析仪,然后按下启动按钮。屏幕上会在数秒内显示初始结果。此外,也可以显示合格和不合格消息,从而消除了操作员解释结果的需要。测量完成后,设备发出蜂鸣声,提醒操作员设备已准备好测量下一份样品。

5.强大的数据管理

LAB-X5000能够储存最多100,000条测量结果(以及相关光谱)。您可以在集成打印机上打印结果,或者将结果传输到USB存储装置。此外,还可以通过Wi-Fi将结果自动传输到我们的ExTOPE Connect云服务,并通过任何计算机实时管理数据。无需靠近分析仪即可查看结果,并创建和共享结果。甚至可以通过一个云账户访问来自多个日立分析仪的数据,从而全面了解您的测试操作。


LAB-X5000使得离型膜行业能够执行精确、快速和低成本的测试,使生产商在保持利润率的同时更容易满足产品规格。

了解有关LAB-X500如何为企业带来益处的更多信息。

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日期: 10 December 2018

作者: Hitachi High-Tech Analytical Science

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