Materialien werden beschichtet oder galvanisiert, um ihre Funktionseigenschaften zu verbessern und die Lebensdauer zu verlängern. Die Schichtdicke muss innerhalb des vorgegebenen Spezifikationsbereichs liegen. Ist die Beschichtung zu dünn, kann das fertige Bauteil im Einsatz vorzeitig ausfallen, etwa durch Korrosion, Verschleiß oder, im Fall von Elektronik, durch mangelhaften elektrischen Kontakt. Ist die Schicht hingegen zu dick, kann dies das Zusammenspiel komplexer Komponenten, beispielsweise von Motorteilen, beeinträchtigen. Bei dekorativen Beschichtungen ist die richtige Schichtdicke entscheidend für das gewünschte Erscheinungsbild des Endprodukts – stimmt sie nicht, muss das Bauteil nachgearbeitet oder entsorgt werden.
Die Herausforderung besteht darin, die Schichtdicke an fertigen Komponenten genau und zuverlässig zu messen. Oft sind mehrere Schichten zu analysieren, und der Messvorgang darf das Bauteil weder beschädigen noch optisch beeinträchtigen. Hier kommen Röntgenfluoreszenz-Analysatoren (RFA) und elektromagnetische Handmessgeräte ins Spiel – zuverlässig, präzise und zerstörungsfrei liefern diese Analysetechniken innerhalb von Sekunden Ergebnisse und ermöglichen so die Durchführung kritischer Messungen an beschichteten Bauteilen oder fertigen Baugruppen.
Die XRF-Schichtdickenmessgeräte der FT200-Serie wurden entwickelt, um die Prüfung von Komponenten und Baugruppen zu vereinfachen und zu beschleunigen. So können mehr Teile in kürzerer Zeit gemessen werden. Mit Funktionen wie der Find My Part™-Smart-Erkennung, automatischer Probenfokussierung und einer Weitwinkelkamera reduzieren die Modelle FT230 und FT210 die Einrichtzeit und minimieren Bedienfehler, wodurch Durchsatz und Produktivität gesteigert werden.
Lassen Sie Ihr XRF-Gerät die Entscheidungen für Sie treffen.
Ein vielseitiges Tischgerät zur Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF), das für Proben mit unterschiedlichsten Formen und Größen ausgelegt ist. Das X-Strata920 lässt sich so konfigurieren, dass es eine große Bandbreite an Proben aufnehmen kann – darunter elektronische Bauteile, Steckverbinder, dekorative Elemente sowie galvanisierte oder elektrolytisch beschichtete Komponenten. Mit sechs integrierten Kollimatoren und einer Auswahl an Detektortypen kann das Gerät optimal an Ihre spezifische Anwendung angepasst werden.
Dieses tragbare XRF-Analysegerät ermöglicht eine schnelle und zerstörungsfreie Inline-Prüfung zur Bestimmung von Schichtdicke und Schichtgewicht. Es eignet sich außerdem ideal für schwere oder sperrige Bauteile, bei denen der Einsatz eines Tischgeräts nicht praktikabel ist.
Unsere Messgeräte zur Schichtdickenbestimmung für Lack- und Pulverbeschichtungen können auch Eloxalschichten auf Aluminium messen. Sie erfassen eine breite Palette an Schutzbeschichtungen, darunter Polymere, Epoxid, Harze und Gummi.
Einsatz unserer Geräte zur Schichtdickenmessung in der Elektronikfertigung und in Galvanikbetrieben
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