Mikrofokus RFA Geräte zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse liefern Ergebnisse in Sekunden - für die schnelle Qualitätskontrolle und Validierungstests.
Schichtdickenmessung und Materialanalyse, basierend auf Röntgenfluoreszenz (RFA), ist eine verbreitete und in der Industrie erprobte Analysetechnik. Sie bietet einfache Bedienung, schnelle und zerstörungsfreie Analyse mit geringer oder keiner Probenvorbereitung. Feste und flüssige Stoffe können über einen weiten Elementbereich von 13Al bis 92U in der Periodentabelle analysiert werden.
Kontaktieren Sie unsDie Fähigkeit, Veredlungsprozesse zu steuern, bestimmt Pitch, Zuverlässigkeit und Haltbarkeit der Leiterplatten. Messen Sie beim Vernicklungsprozess Nickelphosphor (EN, NiP), Galvanisierungsdicke und Zusammensetzung gemäß IPC 4556 and IPC 4552A. Unsere Röntgenfloureszenz-Messgeräte ermöglichen die Einhaltung enger Toleranzbereiche, um hohe Qualität zu gewährleisten und kostspielige Nacharbeit zu vermeiden.
Die Komponenten müssen gemäß der Spezifikation veredelt werden, um die gewünschten elektrischen, mechanischen und umweltrelevanten Eigenschaften zu erreichen. Analysieren Sie kleine Features oder Endlosstreifen in der Schlitzkammer der X-Strata Messgeräte, um Deck-, Zwischen- und Vorgalvanisierungsschichten für Leiterplatten, Steckerstifte, Draht und Abschlüsse zu kontrollieren.
Halbleiter werden immer kleiner und komplexer. Hier werden Schichtdickenmessgeräte benötigt, die dünne Filme in kleinen Bereichen messen können. Unsere Analysegeräte bieten eine hochpräzise, zerstörungsfreie RFA-Analyse und reproduzierbare Probenpositionierung für anspruchsvolle Anwendungen.
Die Kombination von Fertigteilen und vor Ort gefertigter Komponenten zur Entmontage oder für ein Produkt umfasst viele Prüfpunkte, von der Eingangsprüfung bis zur Kontrolle im Produktionsprozess. Unsere Mikrofokus-RFA Produkte erlauben es Ihnen, Komponenten, Lötstellen und Veredelungen in der gesamten Anlage zu analysieren und bei jedem Schritt Qualität zu gewährleisten.
Die Nachfrage nach erneuerbaren Energien steigt kontinuierlich. Bei der Gewinnung von Sonnenenergie spielen Photovoltaikanlagen eine wichtige Rolle. Die Qualität der dünnen Solarzellen ist ein wichtiger Bestandteil zur effizienten Energiegwinnung. MIt der ortsaufgelösten RFA stellen Sie sicher, dass die Solarzellen passgenau und gleichmäßig befestigt sind, um maximale Effektivität zu erreichen.
Innerhalb einer komplexen, globalen Lieferkette muss man sich auf das von Händlern gelieferte Material verlassen können. Nutzen Sie unsere Röntgenfluoreszenz-Messgeräte, um eingehende Lieferungen auf ihre Konformität mit Regularien wie RoHS und ELV nach IEC 62321 zu überprüfen. Stellen Sie sicher, dass bei Anwendungen z. B. in der Luftfahrt und beim Militär hoch verlässliche Beschichtungen eingesetzt werden.
| X-Strata920 | X-Strata920 | FT110A | FT200 Serie | FT160 | |
| ENIG | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| ENEPIG | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| Schichtdicke und Zusammensetzung bei Chemisch Nickel (IPC 4556, IPC 4552) | N/A | ★★☆ | N/A | ★★☆ | ★★★ |
| Schichtdicke bei Chemisch Nickel | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| Chemisch Ag | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| Chemisch Sn | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| HASL | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| Bleifreier Lötzinn (z.B. SAC) | ★☆☆ | ★★☆ | ★☆☆ | ★★☆ | ★★★ |
| CIGS | N/A | ★★☆ | N/A | ★★☆ | ★★★ |
| CdTe | N/A | ★★☆ | N/A | ★★☆ | ★★★ |
| Dünnschicht-Analyse im nm-Bereich | N/A | ★★☆ | N/A | ★★☆ | N/A |
| Mehrschicht-Analyse | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| IEC 62321 RoHS screening | N/A | N/A | ★★★ | ★★☆ | ★★★ |
| Messung < 50 µm | N/A | N/A | N/A | N/A | ★★★ |
| Mustererkennungssoftware | N/A | N/A | ★★★ | N/A | ★★★ |
Überprüfung der Schichtdicke und chemischen Zusammensetzung der Beschichtung, um die Funktionalität und Beständigkeit des Produkts in rauher Umgebung zu sichern, bequeme und zerstörungsfreie Analyse von kleinen Teilen und großen Baugruppen.
Vermeidung von Produktausfällen durch die Sicherung der Schichtdicke und Gleichmäßigkeit kritischer Teile, die in rauher Umgebung eingesetzt werden. RFA-Analyse komplexer Formen, dünner oder dicker Schichten und von Endprodukten.
Für eine einwandfreie Verarbeitung ist die Qualitätskontrolle während des Produktionsprozesses von entscheidender Bedeutung. Mit den Hitachi High-Tech Röntgenfluoreszenz-Messgeräten können Sie zuverlässig Basismaterialien überprüfen sowie Zwischen- und Deckschichten analysieren.
Oberflächenbehandlungen für Teile, die extremsten Bedingungen ausgesetzt sind, müssen innerhalb enger Toleranzen kontrolliert werden. Die Gewährleistung der Beschichtungseigenschaften vermeidet Rückrufe und Ausfälle.
| X-Strata920 | X-Strata920 | FT110A | FT200 Serie | FT160 | |
| Zn / Fe, Fe Legierungen Cr / Fe, Fe Legierungen Ni / Fe, Fe Legierungen | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| ZnNi / Fe, Fe Legierungen ZnSn / Fe, Fe Legierungen | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| NiP / Fe NiP / Cu NiP / Al | ★★☆ (Nur Schichtdicke) | ★★☆ (Schichtdicke und Zusammensetzung) | ★★☆ (Nur Schichtdicke) | ★★★ (Schichtdicke und Zusammensetzung) | ★★★ (Schichtdicke und Zusammensetzung) |
| Ag / Cu Sn / Cu | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| Cr / Ni / Cu / ABS | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| Au / Pd / Ni /CuZn | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| WC / Fe, Fe Legierungen TiN / Fe, Fe Legierungen | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| Dünnschichtanalyse im nm-Bereich | N/A | ★★☆ | N/A | ★★☆ | N/A |
| Mehrschichtanalyse | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | N/A |
| IEC 62321 RoHS Screening | N/A | N/A | N/A | ★★☆ | N/A |
| Distanzunabhängige Messung | N/A | N/A | ★★★ | ★★★ | N/A |
| Mustererkennungssoftware | N/A | N/A | ★★★ | N/A | N/A |
