Surface Technology

21. - 23. Juni 2022 in Stuttgart, Halle 001 | Stand H43

Besuchen Sie uns auf der Surface Technology in Halle 001, Stand H43, um

zu erfahren, warum ein Mikron den Unterschied zwischen einem erfolgreichen Produkt und unnötigem Ausschuss ausmacht,
eine Demo unserer Coatings Analysegeräte zu bekommen – bringen Sie gerne Ihre eigene Probe mit, und
mit unseren Experten über die neuesten Trends der Schichtdickenanalysegeräte zu sprechen

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Produkte zur Schichtdickenanalyse vergleichen

Mit unseren genauen, schnellen und zuverlässigen Schichtdickenanalysegeräten sind Sie für aktuelle und künftige Herausforderungen der Metallveredelung gut gerüstet.

X-MET8000

RFA-Handgerät
Großflächiger SDD
Elementbereich: Mg - U
6-Stufen-Filter
Gewicht: 1,5 kg
Akkulaufzeit:10 -12 Stunden
Standardlos + automatische Auswahl von empirischen Kalibrierungen

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FT110A

Proportionalzählersystem
Elementbereich: Ti - U
Messkammer geschlitzt oder geschlossen
XY-Tisch Optionen: Fixed base, motorisiert
Maximale Probengröße: 500 x 400 x 150 mm
Maximale Anzahl von Kollimatoren: 4
Filter: 1
Kleinster Kollimator: 0,05 mm
X-ray Station Software

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FT160

Hochauflösender SDD
Elementbereich: Al - U
Geschlossene Messkammer
XY-Tisch Optionen: motorisiert, wafer
Maximale Anzahl von Kollimatoren: 600 x 600 x 20 mm
Filter: 1 oder 3
Polykapillar-Optik < 20 µm
XRF Controller

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X-Strata920

Proportionalzählersystem oder hochauflösender SDD
Elementbereich: Ti - U oder Al - U (SDD)
Geschlitzte Messkammer
XY-Tisch Optionen: Fixed base, deep well, motorisiert
Maximale Probengröße: 270 x 500 x 150 mm
Maximale Anzahl von Kollimatoren: 6
Filter : 1
Kleinster Kollimator: 0,01 x 0,25 mm (0.5 x10 mil)
SmartLink software

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	X-Strata920 Proportionalzähler	X-Strata920 High resolution SDD	FT110A Hochaufgelöster SDD	FT160 Hochaufgelöster SDD Polykapillar-Optik
ENIG	★★☆	★★★	★★☆	★★★
ENEPIG	★★☆	★★★	★★☆	★★★
Schichtdicke und Zusammensetzung bei Chemisch Nickel (IPC 4556, IPC 4552)	N/A	★★☆	N/A	★★★
Schichtdicke bei Chemisch Nickel	★★☆	★★★	★★☆	★★★
Chemisch Ag	★★☆	★★★	★★☆	★★★
Chemisch Sn	★★☆	★★★	★★☆	★★★
HASL	★★☆	★★★	★★☆	★★★
Bleifreier Lötzinn (z.B. SAC)	★☆☆	★★☆	★☆☆	★★★
CIGS	N/A	★★☆	N/A	★★★
CdTe	N/A	★★☆	N/A	★★★
Dünnschicht-Analyse im nm-Bereich	N/A	★★☆	N/A	★★★
Mehrschicht-Analyse	★★☆	★★★	★★☆	★★★
IEC 62321 RoHS screening	N/A	N/A	N/A	N/A
Messung < 50 µm	N/A	N/A	N/A	★★★
Mustererkennungssoftware	N/A	N/A	★★★	★★★

Handgeräte zur Schichtdickenmessung

Wir bieten Handgeräte zur Schichtdickenmessung auf Leiterplatten- und Kupferbeschichtungen an.

Zu den üblichen Messanwendungen mit diesen digitalen Leiterplatten- und Kupfer-Oberflächenmessgeräten gehören:

Kupferfolierung und -kaschierung

Kupferoberflächenbeschichtungen
Kupferbeschichtungen bei der Durchsteckmontage