Productronica 2019

12. – 15. November in München, Deutschland. Standnummer A1.563

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sich selbst zu überzeugen, dass es sich lohnt, Ihre XRF-Analyse mitzubringen
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Mit unseren genauen, schnellen und zuverlässigen Schichtdickenanalysegeräten sind Sie für aktuelle und künftige Herausforderungen der Elektronikindustrie gut gerüstet.

X-Strata920

Proportionalzählersystem oder hochauflösender SDD
Elementbereich: Ti - U oder Al - U (SDD)
Geschlitzte Messkammer
XY-Tisch Optionen: Fixed base, deep well, motorisiert
Maximale Probengröße: 270 x 500 x 150 mm
Maximale Anzahl von Kollimatoren: 6
Filter : 1
Kleinster Kollimator: 0,01 x 0,25 mm (0.5 x10 mil)
SmartLink software

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FT110A

Proportionalzählersystem
Elementbereich: Ti - U
Messkammer geschlitzt oder geschlossen
XY-Tisch Optionen: Fixed base, motorisiert
Maximale Probengröße: 500 x 400 x 150 mm
Maximale Anzahl von Kollimatoren: 4
Filter: 1
Kleinster Kollimator: 0,05 mm
X-ray Station Software

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FT150

Hochauflösender SDD
Elementbereich: Al - U
Geschlossene Messkammer
XY-Tisch Optionen: motorisiert, wafer
Maximale Anzahl von Kollimatoren: 600 x 600 x 20 mm
Filter: 1 oder 3
Polykapillar-Optik < 20 µm
XRF Controller

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	X-Strata920 Proportionalzähler	X-Strata920 High resolution SDD	FT110A Hochaufgelöster SDD	FT150 Hochaufgelöster SDD Polykapillar-Optik
ENIG	★★☆	★★★	★★☆	★★★
ENEPIG	★★☆	★★★	★★☆	★★★
Schichtdicke und Zusammensetzung bei Chemisch Nickel (IPC 4556, IPC 4552)	N/A	★★☆	N/A	★★★
Schichtdicke bei Chemisch Nickel	★★☆	★★★	★★☆	★★★
Chemisch Ag	★★☆	★★★	★★☆	★★★
Chemisch Sn	★★☆	★★★	★★☆	★★★
HASL	★★☆	★★★	★★☆	★★★
Bleifreier Lötzinn (z.B. SAC)	★☆☆	★★☆	★☆☆	★★★
CIGS	N/A	★★☆	N/A	★★★
CdTe	N/A	★★☆	N/A	★★★
Dünnschicht-Analyse im nm-Bereich	N/A	★★☆	N/A	★★★
Mehrschicht-Analyse	★★☆	★★★	★★☆	★★★
IEC 62321 RoHS screening	N/A	N/A	N/A	N/A
Messung < 50 µm	N/A	N/A	N/A	★★★
Mustererkennungssoftware	N/A	N/A	★★★	★★★

Handgeräte zur Schichtdickenmessung

Wir bieten Handgeräte zur Schichtdickenmessung auf Leiterplatten- und Kupferbeschichtungen an.

Zu den üblichen Messanwendungen mit diesen digitalen Leiterplatten- und Kupfer-Oberflächenmessgeräten gehören:

Kupferfolierung und -kaschierung

Kupferoberflächenbeschichtungen
Kupferbeschichtungen bei der Durchsteckmontage