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Hitachi High-Tech Analytical Science

Productronica 2019

12. – 15. November in München, Deutschland. Standnummer A1.563

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Kommen Sie zu unserem Stand A1.563, um:

  • eine Demo unseres Schichtdickenanalysegeräts zu bekommen – bringen Sie gerne Ihre eigene Probe mit
  • sich selbst zu überzeugen, dass es sich lohnt, Ihre XRF-Analyse mitzubringen
  • mit unseren Experten über die IPC Spezifikationen zu sprechen
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Nutzen Sie Ihren Gutschein, um die Productronica 2019 kostenlos zu besuchen und erhalten Sie eine Kopie unserer Guideline: Verwenden Sie den XRF, um Ihre IPC Spezifikationen zu analysieren 

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Produkte zur Beschichtungsanalyse vergleichen

Mit unseren genauen, schnellen und zuverlässigen Schichtdickenanalysegeräten sind Sie für aktuelle und künftige Herausforderungen der Elektronikindustrie gut gerüstet.

X-Strata920
  • Proportionalzählersystem oder hochauflösender SDD
  • Elementbereich: Ti - U oder Al - U (SDD)
  • Geschlitzte Messkammer
  • XY-Tisch Optionen: Fixed base, deep well, motorisiert
  • Maximale Probengröße: 270 x 500 x 150 mm
  • Maximale Anzahl von Kollimatoren: 6
  • Filter : 1
  • Kleinster Kollimator: 0,01 x 0,25 mm (0.5 x10 mil)
  • SmartLink software
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FT110A
  • Proportionalzählersystem
  • Elementbereich: Ti - U
  • Messkammer geschlitzt oder geschlossen
  • XY-Tisch Optionen: Fixed base, motorisiert
  • Maximale Probengröße: 500 x 400 x 150 mm
  • Maximale Anzahl von Kollimatoren: 4
  • Filter: 1
  • Kleinster Kollimator: 0,05 mm
  • X-ray Station Software
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FT150
  • Hochauflösender SDD
  • Elementbereich: Al - U
  • Geschlossene Messkammer
  • XY-Tisch Optionen: motorisiert, wafer
  • Maximale Anzahl von Kollimatoren: 600 x 600 x 20 mm
  • Filter: 1 oder 3
  • Polykapillar-Optik < 20 µm
  • XRF Controller
Angebot / Demo anfordern
 

X-Strata920
Proportionalzähler

X-Strata920
High resolution SDD

FT110A
Hochaufgelöster SDD

FT150
Hochaufgelöster SDD
Polykapillar-Optik
ENIG ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
ENEPIG ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
Schichtdicke und Zusammensetzung bei Chemisch Nickel (IPC 4556, IPC 4552) N/A ★★☆ N/A ★★★
Schichtdicke bei Chemisch Nickel ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
Chemisch Ag ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
Chemisch  Sn ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
HASL ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
Bleifreier Lötzinn (z.B. SAC) ★☆☆ ★★☆ ★☆☆ ★★★
CIGS N/A ★★☆ N/A ★★★
CdTe N/A ★★☆ N/A ★★★
Dünnschicht-Analyse im nm-Bereich N/A ★★☆ N/A ★★★
Mehrschicht-Analyse ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
IEC 62321 RoHS screening N/A N/A N/A N/A
Messung < 50 µm N/A N/A N/A ★★★
Mustererkennungssoftware N/A N/A ★★★ ★★★

Handgeräte zur Schichtdickenmessung

Wir bieten Handgeräte zur Schichtdickenmessung auf Leiterplatten- und Kupferbeschichtungen an.

Zu den üblichen Messanwendungen mit diesen digitalen Leiterplatten- und Kupfer-Oberflächenmessgeräten gehören:

  • Kupferfolierung und -kaschierung

  • Kupferoberflächenbeschichtungen

  • Kupferbeschichtungen bei der Durchsteckmontage

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