Control 2019, die internationale Fachmesse für Qualitätssicherung und -kontrolle, findet vom 7. bis 10. Mai in Stuttgart statt. Mit über 900 Ausstellern ist sie die beste Networking-Veranstaltung, um aufkommende Branchentrends zu besprechen und mehr über neue Technologien zu erfahren, die Ihnen Erfolg bringen können.
Unsere Experten stehen an Stand 6105 (Halle 6) zur Verfügung, um alle Ihre Fragen zu den OES-, XRF- und LIBS-Geräten von Hitachi für die Qualitätskontrolle und -sicherung zu beantworten. Da wir zahlreiche Besucher erwarten, sollten Sie genügend Zeit einplanen, um mit unseren Experten zu sprechen und unsere Analysegeräte selbst auszuprobieren.
Wir empfehlen Ihnen, bereits jetzt einen Termin mit uns zu vereinbaren.
Hier finden Sie fünf wichtige Gründe, warum Sie Hitachi High-Tech auf der Messe besuchen sollten:
Interne Analysen sind einfach und schnell, doch wenn Sie nicht wissen, wo Sie bei der Optimierung des Verfahrens beginnen sollen, lassen Sie sich von unseren Experten beraten. Die Beauftragung externer Dienstleister ist teuer und führt zu Verzögerungen. Übernehmen Sie also die Kontrolle über Ihre Analysen und führen Sie sie intern durch! Vertrauen ist gut, aber Kontrolle ist besser. Daher lohnt es sich immer, selbst nachzuprüfen, um den Ruf Ihres Unternehmens zu schützen und Kosten zu kontrollieren.
Die fortlaufende Entwicklung und Anwendung von Technologien wie die optische Emissionsspektroskopie (OES), Röntgenfluoreszenz (XRF) und laserinduzierte Plasmaspektrometrie (LIBS) vereinfachen für Unternehmen Analysen über ein breites Spektrum von Branchen hinweg. Lassen Sie uns wissen, was Ihr Unternehmen wirklich braucht, und wir stellen sicher, dass Sie die richtige Lösung erhalten – ohne teure Funktionen, die Sie nicht wirklich benötigen.
Wir bieten umfassende Informationen sowie Demonstrationen unserer OES-, XRF- und LIBS-Analysegeräte für die Bereiche Qualitätssicherung/Qualitätskontrolle (QS/QK), Materialsortierung und Positive Materialidentifikation (Verwechlsungsprüfung, PMI) sowie wissenschaftliche Analysen. Wenn Sie anwendungs- oder gerätespezifische Fragen haben oder mehr darüber erfahren möchten, was möglich ist und was nicht, geben Ihnen unsere Experten die richtigen Antworten für Ihre Anwendung, Ihr Unternehmen und Ihr Budget.
Anne Wegner, EMEA Applications Manager von Hitachi High-Tech, hält am Donnerstag, dem 9. Mai um 14.20 Uhr in Halle 8 einen Vortrag zum Thema „Die Suche nach dem wahren Wert – wie Sie Messungen und die entsprechende Messunsicherheit bewerten“. Denken Sie daran, den Vortrag Ihrem Terminkalender hinzuzufügen!
Die auf unseren Geräten installierte Software liefert schnelle und präzise Ergebnisse, und wir haben die Benutzeroberfläche für Anwender, die die Analysegeräte täglich nutzen, sehr intuitiv ausgelegt. Sie können Pass/Fail-Kriterien für schnelle Messungen festlegen oder zur ausführlicheren Analyse auf die Datei mit den vollständigen Ergebnissen zugreifen. Unsere Geräte sind so konstruiert, dass Sie sie jederzeit upgraden können, um die Zukunftssicherheit Ihrer Investition zu gewährleisten. Probieren Sie die Software selbst aus und stellen Sie uns Fragen.
Unsere Kollegen von Hitachi High-Technology Europe stellen an Stand 6104 ihr Sortiment von Mikroskopen vor, von Rasterelektronenmikroskopen (SEM) bis zu Tischgeräten: https://www.hitachi-hightech.com/global/science/products/index.html
Sie können unseren Stand 6105 ohne Termin besuchen. Um einen maximalen Nutzen aus Ihrem Besuch der Control 2019 zu ziehen, sollten Sie jedoch im Vorfeld einen Termin vereinbaren. Damit gewährleisten Sie, dass ausreichend Zeit mit unseren Experten zur Verfügung steht, um Ihre Fragen zu beantworten und unsere Geräte selbst auszuprobieren.
Wenn Sie darüber nachdenken, Ihr vorhandenes Gerät aufzurüsten oder Austauschoptionen zu besprechen, kommen Sie an unseren Stand und sprechen Sie mit uns.
Wir freuen uns darauf, Sie auf der Control zu sehen.
Fallstudie: Werkstoffanalyse von Wälzlagerprodukten mit dem X-MET8000 RFA Handgerät bei Kugellager-Express
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