FT230 | Automatisierte RFA für die schnelle Analyse von Beschichtungen

Simply Smarter

Das RFA Tischgerät FT230 wurde entwickelt, um den Zeitaufwand für eine Messung erheblich zu reduzieren. Da die meiste Zeit für das Einrichten der Probe und die Auswahl des Analyseprogramms benötigt wird, haben wir ein Analysegerät mit neuartigem Konzept entwickelt, das sich praktisch selbst einrichtet, so dass viel mehr Teile in kürzerer Zeit analysiert werden können.

Automatisierung und innovative Software machen das FT230 Schichtdickenmessgerät aus. Mit intelligenten Erkennungsmodulen wie Find My Part™ braucht der Bediener nur noch die Probe einlegen und bestätigen, den Rest erledigt der FT230. Es findet die richtigen Messstellen, wählt das richtige Analyseprogramm aus und schickt die Ergebnisse an Ihr Qualitätssystem. Zeitaufwand und menschliche Fehler werden reduziert, und Sie können mehr Analysen in kürzerer Zeit durchführen, so dass eine 100%ige Prüfung in einer geschäftigen Produktionsumgebung realisiert werden kann.

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Produkt Highlights

Jedes einzelne Element des FT230 wurde entwickelt, um die Analysezeit drastisch zu reduzieren.

  • Automatisierte Fokussierung reduziert die Probenladezeit
  • Die intelligente Erkennung mit der Find My Part™ Funktion stellt automatisch die komplette Messroutine ein
  • Die Probenansicht wird über einen großen Teil des Bildschirms dargestellt und bietet so eine hervorragende Sichtbarkeit
  • Selbst-Diagnose bestätigt den Zustand und die Stabilität des Geräts
  • Nahtlose Integration in andere Software und einfacher Datenexport
  • Intuitive und einfache Nutzung dank einer neuen Benutzeroberfläche
  • Leistungsstark: gleichzeitige Messung von bis zu vier Schichten und von Substraten
  • Für anspruchsvolle Produktions- oder Laborumgebung konzipiert
  • Entspricht den Normen ASTM B568 und DIN ISO 3497
  • Unterstützt Sie bei der Erfüllung der Spezifikationen für ENIG (IPC-4552B), ENEPIG (IPC-4556), Immersion Sn (IPC-4554) und Immersion Ag (IPC-4553A)
 

RFA Analysator FT230 

Elementbereich

Al (13) - U (92)

Detektor Silicon drift detector (SDD)
Probenkammer-Design Slotted or closed
Tisch

Motorisiert oder fest

Tisch Verfahrwege 250 x 200 mm
Motorisierte Z-Achsenbewegung 205 mm
Maximal Probengröße 500 x 400 x 150 mm
Anzahl der Kollimatoren

4

Laserfokus

Standard

Autofokus Optional

Weitwinklekamera

Optional

Abstandsunabhängige Messung

Optional

Find My Part™ Funktion

Optional

Schichtdickenanalyse

✔️

RoHS Screening

✔️

Software

FT Connect

Downloads

Technische Daten

Kontakt

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