Warum das RFA-Analysegerät FT160 die richtige Wahl für elektronische Bauteile ist

„Welches Analysegerät eignet sich am besten für meine Anwendung?“

Diese Frage wird uns häufig gestellt. Die Antwort hängt im Wesentlichen davon ab, welche Arten von Analysen Sie durchführen müssen, welcher Grad an Genauigkeit erforderlich ist und welche Bauteile Sie analysieren müssen. Wenn Ihre Anwendung das Messen der Beschichtungsdicke von elektronischen Leiterplatten, Halbleitern und Verbindern erfordert, lautet unsere Antwort immer: das FT160.

Elektronische Bauteile stellen eine besondere Herausforderung für Analysen dar. Die offensichtlichste Hürde ist die winzige Größe der zu analysierenden Bauteile. Dies wiederum bedeutet, dass Sie ein sehr präzises Messgerät mit einem sehr kleinen Messpunkt benötigen. Und obwohl die Features sehr klein sein können, kann die Leiterplatte oder das Wafer recht groß ausfallen. In diesen Fällen kann die Suche nach dem zu analysierenden Feature sehr zeitaufwändig werden.

Bei der Entwicklung des FT160 wurden genau diese Herausforderungen berücksichtigt. Das FT160 wurde speziell zur Messung von Beschichtungen auf winzigen elektronischen Features auf großen Komponenten entwickelt und bietet zahlreiche Funktionen, die die Qualitätskontrolle von Beschichtungen in der Produktion vereinfachen. Im Folgenden sind einige dieser Funktionen aufgeführt, und wir beschreiben, warum diese Ihnen helfen können:

Moderne Optik zur präzisen Analyse von Features kleiner als 50 µm

Das FT160 verfügt über eine innovative Polykapillaroptik, die einen hochintensiven 30-µm-Strahl zur präzisen Analyse selbst kleinster Features auf Halbleiterwafern und extrem kleinen Bauteilen erzeugt. Die Polykapillaroptik wurde entwickelt, um den unerwünschten „Halo-Effekt“ deutlich zu reduzieren, der bei einigen energiereichen Analysen zu einer unerwünschten Vergrößerung des Messpunkts führen kann.

Hoch empfindlicher SDD-Detektor für schnellere akkurate Analysen

Der Detektor in Ihrem RFA-Analysegerät bestimmt nicht nur, was Sie analysieren können, sondern auch, wie schnell Sie das Ergebnis erhalten. Je empfindlicher der Detektor, desto größer die Messgenauigkeit und desto kürzer die Analysezeit. Das FT160 umfasst einen hochempfindlichen SDD-Detektor, der die zahlreichen Elemente in den verschiedenen Schichten Ihres Bauteils leicht auflöst und die Zählrate älterer Technologien effektiv verdoppelt. Mit anderen Worten, Sie erhalten schnell genaue und zuverlässige Ergebnisse.

Optimierte Probenbeleuchtung für höchste Punktgenauigkeit

Wie bereits erwähnt, kann die Suche nach dem richtigen Messbereich manchmal schwierig sein. Wenn die Beleuchtung nicht optimal ist, wird diese Herausforderung noch größer. Unter Umständen sind Sie sicher, den richtigen Punkt zu messen, tatsächlich aber spielt Ihnen das Licht einen Streich. Das FT160 nutzt eine Kombination aus ringförmiger und gleichachsiger Beleuchtung, um Schatten und Reflexionen zu reduzieren, die Messfehler verursachen könnten.

 

Hochauflösende Kamera mit 16-fachen digitalem Zoom

Wir haben eine hochauflösende Kamera in das FT160 integriert, die, durch die oben beschriebenen Beleuchtung unterstützt wird. Diese hochwertige Kamera bietet eine 16-fache Vergrößerung und minimiert die Verzerrung, so dass Sie einen klaren und akkuraten Blick auf die Halbleiter- bzw. Leiterplattenoberfläche haben. Diese Merkmale machen das FT160 noch benutzerfreundlicher und verkürzen die Ladezeiten für Proben.

Automatisierte Controller-Software

Ein weiterer Pluspunkt des FT160 ist die intelligente Controller-Software, die die exakten Messpunkte automatisch ermittelt. Sie müssen lediglich die Messpunkte auf dem Bildschirm kennzeichnen. Das Messgerät führt die Analyse dann automatisch durch und verwendet eine Technik zur Muster- und Formenzuordnung, um die richtige Position zu finden.

Auswahl der Konfigurationsoptionen für Ihre spezifische Anwendung

Das FT160 verfügt über eine große Probentür zum einfachen Beladen der großen Probenkammer, in der Proben mit Abmessungen von bis zu 400 x 300 x 100 mm Platz finden. Diese Größe eignet sich ideal für Mikrostecker und Chipträger. Wenn Sie jedoch größere Teile wie z. B. Leiterplatten analysieren müssen, können Sie das Modell mit der größeren Probenkammer wählen, das Leiterplatten oder Bauteile mit Abmessungen von bis zu 600 mm x 600 mm aufnehmen kann.

Einhaltung von Industrienormen

Erwähnenswert ist ferner, dass das FT160 als Ihre Messmethode die Normen ISO 3497, ASTM B568 und DIN 50987 sowie verschiedene IPC-Spezifikationen einschließlich IPC-4552A und IPC-4556 einhält.

Erleben Sie das FT160 in Aktion …

Eine Vorführung ist zweifellos die beste Möglichkeit, um herauszufinden, ob das FT160 auch für Ihre Anwendung das richtige Analysegerät ist. Wenden Sie sich einfach an uns und wir arrangieren einen Vorführungstermin für Sie.

Sehen Sie das FT160 in Aktion mit unserer neuen Visualisierungs-App


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Datum: 18 March 2020

Autor: Hitachi High-Tech Analytical Science

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