RFA-Schichtdickenanalysegeräte für den Elektronikbereich

Wenn jeder Nanometer zählt

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Die Leistungsstärke und Zuverlässigkeit der Hitachi High-Tech Schichtdickenanalysegeräte kann dazu beitragen, die komplexesten Betriebsabläufe zu vereinfachen. Um Ihre Produktivität zu steigern, haben wir eine ausgereifte, anwenderfreundliche Technologie entwickelt mit verschiedenen Optionen für höchstmögliche Flexibilität:

✔ Mehrere Probenbehälter und Probentischkonfigurationen für eine einfache Handhabung von Proben verschiedener Formen und Größen.

✔ Programmierbare Automation zur Entlastung des Anwenders.

✔ Datenverarbeitung, einschließlich Datenexport, die in ein Qualitätsmanagementsystem oder in Kundenreports integriert werden kann.

✔ Kalibrationen über die Schichtdickenanalyse hinaus, einschließlich RoHS Überprüfung.

 

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Mit unseren genauen, schnellen und zuverlässigen Schichtdickenanalysegeräten sind Sie für aktuelle und künftige Herausforderungen der Elektronikindustrie gut gerüstet.

X-Strata920
  • Proportionalzählersystem oder hochauflösender SDD
  • Elementbereich: Ti - U oder Al - U (SDD)
  • Geschlitzte Messkammer
  • XY-Tisch Optionen: Fixed base, deep well, motorisiert
  • Maximale Probengröße: 270 x 500 x 150 mm
  • Maximale Anzahl von Kollimatoren: 6
  • Filter : 1
  • Kleinster Kollimator: 0,01 x 0,25 mm (0.5 x10 mil)
  • SmartLink Software
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FT110A
  • Proportionalzählersystem
  • Elementbereich: Ti - U
  • Messkammer geschlitzt oder geschlossen
  • XY-Tisch Optionen: Fixed base, motorisiert
  • Maximale Probengröße: 500 x 400 x 150 mm
  • Maximale Anzahl von Kollimatoren: 4
  • Filter: 1
  • Kleinster Kollimator: 0,05 mm
  • X-ray Station Software
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FT150
  • Hochauflösender SDD
  • Elementbereich: Al - U
  • Geschlossene Messkammer
  • XY-Tisch Optionen: motorisiert, wafer
  • Maximale Anzahl von Kollimatoren: 600 x 600 x 20 mm
  • Filter: 1 oder 3
  • Polykapillar-Optik < 20 µm
  • XRF Controller
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X-Strata920
Proportionalzähler

X-Strata920
High resolution SDD

FT110A
Hochaufgelöster SDD

FT150
Hochaufgelöster SDD
Polykapillar-Optik

ENIG ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
ENEPIG ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
Schichtdicke und Zusammensetzung bei Chemisch Nickel (IPC 4556, IPC 4552) N/A ★★☆ N/A ★★★
Schichtdicke bei Chemisch Nickel ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
Chemisch Ag ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
Chemisch  Sn ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
HASL ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
Bleifreier Lötzinn (z.B. SAC) ★☆☆ ★★☆ ★☆☆ ★★★
CIGS N/A ★★☆ N/A ★★★
CdTe N/A ★★☆ N/A ★★★
Dünnschicht-Analyse im nm-Bereich N/A ★★☆ N/A ★★★
Mehrschicht-Analyse ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
IEC 62321 RoHS Screening N/A N/A N/A N/A
Messung < 50 µm N/A N/A N/A ★★★
Mustererkennungssoftware N/A N/A ★★★ ★★★

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TM4000Plus

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Handgeräte zur Schichtdickenmessung

Wir bieten Handgeräte zur Schichtdickenmessung auf Leiterplatten- und Kupferbeschichtungen an.

Zu den üblichen Messanwendungen mit diesen digitalen Leiterplatten- und Kupfer-Oberflächenmessgeräten gehören:

  • Kupferfolierung und -kaschierung

  • Kupferoberflächenbeschichtungen

  • Kupferbeschichtungen bei der Durchsteckmontage

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