RFA-Schichtdickenanalysegeräte für den Elektronikbereich

Wenn jeder Nanometer zählt

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Höchste Genauigkeit für kleinste Komponenten 

Mit unseren hochpräzisen und zuverlässigen Analysegeräten unterstützen wir Sie bei der Erfüllung von Qualitätsanforderungen industrieller Spezifikationen. Angesichts der entscheidenden Rolle der Elektronik in anspruchsvollen Märkten – Automobil, Luft- und Raumfahrt, Kommunikation und Verbraucher – sind Zuverlässigkeit und Genauigkeit in der Produktion und Qualitätskontrolle von größter Bedeutung für die Sicherheit. Unsere Auswahl an Schichtdickenmessgeräten ist ideal für die High- End-Elektronik und Halbleiter-Wafer Industrie, um Beschichtungen im Nanometerbereich auf Strukturen, die weit kleiner als 100 Mikrometer sind, zu messen.

Wir haben eine Reihe von Videos für Sie zusammengestellt, um Ihnen in der aktuellen Situation zu helfen und Ausfälle zu minimieren.

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Die Leistungsstärke und Zuverlässigkeit der Hitachi High-Tech Schichtdickenanalysegeräte kann dazu beitragen, die komplexesten Betriebsabläufe zu vereinfachen. Um Ihre Produktivität zu steigern, haben wir eine ausgereifte, anwenderfreundliche Technologie entwickelt mit verschiedenen Optionen für höchstmögliche Flexibilität:

✔ Mehrere Probenbehälter und Probentischkonfigurationen für eine einfache Handhabung von Proben verschiedener Formen und Größen.

✔ Programmierbare Automation zur Entlastung des Anwenders.

✔ Datenverarbeitung, einschließlich Datenexport, die in ein Qualitätsmanagementsystem oder in Kundenreports integriert werden kann.

✔ Kalibrationen über die Schichtdickenanalyse hinaus, einschließlich RoHS Überprüfung.

 

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Produkte zur Beschichtungsanalyse vergleichen

Mit unseren genauen, schnellen und zuverlässigen Schichtdickenanalysegeräten sind Sie für aktuelle und künftige Herausforderungen der Elektronikindustrie gut gerüstet.

X-Strata920
  • Proportionalzählersystem oder hochauflösender SDD
  • Elementbereich: Ti - U oder Al - U (SDD)
  • Geschlitzte Messkammer
  • XY-Tisch Optionen: Fixed base, deep well, motorisiert
  • Maximale Probengröße: 270 x 500 x 150 mm
  • Maximale Anzahl von Kollimatoren: 6
  • Filter : 1
  • Kleinster Kollimator: 0,01 x 0,25 mm (0.5 x10 mil)
  • SmartLink Software
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FT110A
  • Proportionalzählersystem
  • Elementbereich: Ti - U
  • Messkammer geschlitzt oder geschlossen
  • XY-Tisch Optionen: Fixed base, motorisiert
  • Maximale Probengröße: 500 x 400 x 150 mm
  • Maximale Anzahl von Kollimatoren: 4
  • Filter: 1
  • Kleinster Kollimator: 0,05 mm
  • X-ray Station Software
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FT160 Serie
  • Hochauflösender SDD
  • Elementbereich: Al - U
  • Geschlossene Messkammer
  • XY-Tisch Optionen: motorisiert, wafer
  • Maximale Anzahl von Kollimatoren: 600 x 600 x 20 mm
  • Filter: 5
  • Polykapillare Spotgröße <20 µm
  • RFA Controller Software
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X-Strata920
Proportionalzähler

X-Strata920
High resolution SDD

FT110A
Hochaufgelöster SDD

FT160
Hochaufgelöster SDD
Polykapillar-Optik

ENIG ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
ENEPIG ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
Schichtdicke und Zusammensetzung bei Chemisch Nickel (IPC 4556, IPC 4552) N/A ★★☆ N/A ★★★
Schichtdicke bei Chemisch Nickel ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
Chemisch Ag ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
Chemisch  Sn ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
HASL ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
Bleifreier Lötzinn (z.B. SAC) ★☆☆ ★★☆ ★☆☆ ★★★
CIGS N/A ★★☆ N/A ★★★
CdTe N/A ★★☆ N/A ★★★
Dünnschicht-Analyse im nm-Bereich N/A ★★☆ N/A ★★★
Mehrschicht-Analyse ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
IEC 62321 RoHS Screening N/A N/A N/A N/A
Messung < 50 µm N/A N/A N/A ★★★
Mustererkennungssoftware N/A N/A ★★★ ★★★

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FlexSEM 1000 II

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Ion-Milling System

ArBlade 5000

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Tabletop Microscope

TM4000Plus

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Handgeräte zur Schichtdickenmessung

Wir bieten Handgeräte zur Schichtdickenmessung auf Leiterplatten- und Kupferbeschichtungen an.

Zu den üblichen Messanwendungen mit diesen digitalen Leiterplatten- und Kupfer-Oberflächenmessgeräten gehören:

  • Kupferfolierung und -kaschierung

  • Kupferoberflächenbeschichtungen

  • Kupferbeschichtungen bei der Durchsteckmontage