Die Wahl des RFA-Analysegerätes kann den Unterschied zwischen Erfolg und Misserfolg ihres Geschäftes ausmachen. Sie wollen in eine effektive und zukunftssichere Technologie investieren. Unsere RFA-Serie bietet eine langfristige Lösung für die Herausforderung, konsistente und genaue Beschichtungen in der miniaturisierten Elektronik zu erzielen.
Wir haben diese Liste von Videos und Online-Assets zusammengestellt, damit Sie unsere Geräte zur Analyse von Elektronikbeschichtungen in Aktion sehen können:
Unsere Analysegeräte
Das neue FT160: Ein fortschrittliches Gerät für Mikrospot-Analysen und Analysen von ultradünnen Beschichtungen
FT160
Entdecken Sie das FT160 virtuell
Manche Dinge sind mit dem menschlichen Auge nur schwer zu erkennen. Mit dem FT160 können Sie nanoskalige Beschichtungen sehen. Mit unserer Visualisierungs-App können Sie das FT160 in Aktion zu sehen.
Sehen Sie sich unseren Territory Sales Manager Lit Herng Heng aus Singapur bei der Einführung und Demonstration des Schichtdickenanalysegeräts X-Strata920 an
Außderdem bieten wir noch Folgendes an:
Online-Live-Demos in Echtzeit: Unsere Experten zeigen Materialanalyse in Echtzeit und beantworten Ihre Fragen. Sie können sich hier für unsere Online-Live-Demos anmelden.
Online Einzel-Demo: Schicken Sie uns gerne Ihre Proben und buchen Sie eine Live-Demo speziell für Ihre Applikation. Wir beraten Sie telefonisch im Vorfeld über die passende Live-Demo für Sie. Kontaktieren Sie uns über das Formular.
Fern-Service: Für bestehende und neue Kundensteht unser Service-Team weiterhin zur Verfügung, sowohl online, telefonisch oder per Ferndiagnose. Setzen Sie sich mit uns über das Formular in Verbindung.
Füllen Sie das Formular aus, um weitere Informationen zu erhalten oder eine Produktdemo zu vereinbaren.
Erklärung unserer Technologien
Dokument herunterladen
Bitte geben Sie Ihre Kontaktdaten an, bevor Sie dieses Dokument herunterladen.
Dokument herunterladen
Danke, dass Sie uns Ihre Kontaktdaten mitgeteilt haben. Das gewünschte Dokument kann nun heruntergeladen werden.
