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1纳米的成败
通过结合高性能和可靠性,日立分析仪器可以帮助简化最复杂的操作。我们一直在寻找提高生产力的方法,我们设计了精巧的技术,使用起来很简单。我们提供高度灵活的选择:✔ 多种样品舱配置,以便于容纳各种形状和尺寸的样品。✔ 可编程自动化以释放操作员的时间。✔ 数据处理包括导出并集成到质量管理系统或客户报告中。✔ 镀层分析之外还提供包括RoHS筛选的校准。
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我们XRF产品系列提供了一个长期的解决方案,以解决在小型化电子器件中实现一致和精确的镀层的挑战。
X-Strata920正比计数器
X-Strata920高分辨率 SDD
FT110A正比计数器
FT160高分辨率 SDD毛细管聚焦光学系统
模式识别软件
我们同时提供一系列手持式镀层测厚仪,用于印刷电路板和表面铜厚度测量。
这些印刷电路板和表面铜厚度测量仪器的常见测量应用包括:
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