电子行业镀层分析

1纳米的成败

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通过结合高性能和可靠性,日立分析仪器可以帮助简化最复杂的操作。我们一直在寻找提高生产力的方法,我们设计了精巧的技术,使用起来很简单。我们提供高度灵活的选择:

✔ 多种样品舱配置,以便于容纳各种形状和尺寸的样品。

✔ 可编程自动化以释放操作员的时间。

✔ 数据处理包括导出并集成到质量管理系统或客户报告中。

✔ 镀层分析之外还提供包括RoHS筛选的校准。

 

 

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镀层分析产品对比

我们XRF产品系列提供了一个长期的解决方案,以解决在小型化电子器件中实现一致和精确的镀层的挑战。

X-Strata920
  • 正比计数器或高分辨率 SDD
  • 元素范围:钛 - 铀,或铝 - 铀(SDD)
  • 样品舱设计:开槽式
  • XY 轴样品台选择: 固定台、加深台、自动台
  • 最大样品尺寸:270 x 500 x 150毫米
  • 最大数量准直器:6
  • 滤光片:1
  • 最小的准直器:0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)
  • SmartLink 软件
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FT110A
  • 正比计数器系统
  • 元素范围:钛 - 铀
  • 样品舱设计:开闭式或开槽式
  • XY 轴样品台选择: 开闭式固定台、开闭式程控台、开槽式固定台、开槽式程控台
  • 最大样品尺寸:500 x 400 x 150 毫米
  • 最大数量准直器:4
  • 滤光片:1
  • 最小的准直器:0.05 毫米
  • X-ray Station 软件
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MAXXI 6
  • 高分辨率 SDD
  • 元素范围: 铝 - 铀
  • 样品舱设计:开槽式
  • XY 轴样品台选择:固定台、自动台
  • 最大样品尺寸:500 x 450 x 170毫米
  • 最大数量的准直器:8
  • 滤光片:5
  • 最小的准直器: 0.05 x 0.05毫米(2 x 2 mil)
  • SmartLink 软件
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FT150
  • 高分辨率 SDD
  • 元素范围: 铝 - 铀
  • 样品舱设计:开闭式
  • XY 轴样品台选择:自动台、晶片样品台
  • 最大样品尺寸:600 x 600 x 20 毫米
  • 滤光片:1 或 3
  • 毛细聚焦管 < 20 µm
  • XRF控制软件
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X-Strata920
正比计数器

X-Strata920
高分辨率 SDD

FT110A
正比计数器

MAXXI 6
高分辨率 SDD

FT150
高分辨率 SDD
毛细管聚焦光
学系统

ENIG ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★
ENEPIG ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★
非电镀镍厚度和组成 (IPC 4556, IPC 4552) ★★☆ ★★★ ★★★
非电镀镍厚度 ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★
浸镀银 ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★
浸镀锡 ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★
HASL ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★
无铅焊料(如 SAC) ★☆☆ ★★☆ ★☆☆ ★★★ ★★★
CIGS ★★☆ ★★★ ★★★
CdTe ★★☆ ★★★ ★★★
纳米级薄膜分析 ★★☆ ★★★ ★★★
多层分析 ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★
IEC 62321 RoHS 筛选 ★★★
检测特征 < 50 µm  ★★★

模式识别软件

★★★ ★★★

接触式镀层测厚仪

我们同时提供一系列手持式镀层测厚仪,用于印刷电路板和表面铜厚度测量。

这些印刷电路板和表面铜厚度测量仪器的常见测量应用包括:

  • 铜箔和覆铜板铜厚度
  • 表面铜厚度
  • 孔铜厚度

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