我们会定期发送电子新闻。请勾选以下选项,告知您是否愿意通过电子邮箱接收我们的信息。
一纳米定成败
通过结合高性能和可靠性,日立分析仪器可以帮助简化复杂的操作。我们一直在寻找提高生产力的方法,我们设计了精巧的技术,使用起来很简单。我们提供高度灵活的选择:✔ 多种样品舱配置,以便于容纳各种形状和尺寸的样品。✔ 可编程自动化以释放操作员的时间。✔ 数据处理包括导出并集成到质量管理系统或客户报告中。✔ 镀层分析之外还提供包括RoHS筛选的校准。
通过下载我们的指南和样本,了解更多关于我们的电子产品分析仪以及它们如何帮助您满足严格的质量标准,例如 IPC 规范和高端电子产品的要求。
我们XRF产品系列提供了一个长期的解决方案,以解决在小型化电子器件中实现一致和精确的镀层的挑战。
X-Strata920高分辨率 SDD
X-Strata920正比计数器
FT110A正比计数器
FT160高分辨率 SDD毛细管聚焦光学系统
模式识别软件
元素分布图
我们同时提供一系列手持式镀层测厚仪,用于印刷电路板和表面铜厚度测量。
这些印刷电路板和表面铜厚度测量仪器的常见测量应用包括:
请在下载前,先填写以下详细的联系方式。
感谢您提供的信息!以下文档可供下载。