Mikrospot RFA Analysegeräte | MAXXI 6 und X-Strata Serie

Mikrofokus RFA Schichtdicken- und Materialanalysegeräte liefern Ergebnisse in Sekunden - für die schnelle Qualitätskontrolle und Validierungstests. 

Schichtdicken- und Materialanalyse, basierend auf Röntgenfluoreszenz (RFA), ist eine verbreitete und in der Industrie erprobte Analysetechnik. Sie bietet einfache Bedienung, schnelle und zerstörungsfreie Analyse mit geringer oder keiner Probenvorbereitung. Feste und flüssige Stoffe können über einen weiten Elementbereich von 13Al bis 92U in der Periodentabelle analysiert werden.

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Anwendungsbereiche

PCB / PWB Finish

Die Fähigkeit Veredlungsprozesse zu steuern, bestimmt Pitch, Zuverlässigkeit und Haltbarkeit der Leiterplatten. Messen Sie beim Vernicklungsprozess Nickelphosphor (EN, NiP), Galvanisierungsdicke und Zusammensetzung gemäß IPC 4556 and IPC 4552. Unsere Geräte ermöglichen die Einhaltung enger Toleranzbereiche, um hohe Qualität zu gewährleisten und kostspielige Nacharbeit zu vermeiden.

Veredelung elektrischer und elektronischer Komponenten

Die Komponenten müssen gemäß der Spezifikation veredelt werden, um die gewünschten elektrischen, mechanischen und umweltrelevanten Eigenschaften zu erreichen. Analysieren Sie kleine Features oder Endlosstreifen in der Schlitzkammer der X-Strata und MAXXI Messgeräte, um Deck-, Zwischen- und Vorgalvanisierungsschichten für Leiterrahmen, Steckerstifte, Draht und Abschlüsse zu kontrollieren.

IC Substratbaugruppen

Halbleiter werden immer kleiner und komplexer. Dies erfordert analytische Geräte mit der Fähigkeit, dünne Filme in kleinen Bereichen zu messen. Unsere Analysegeräte bieten eine hochpräzise Analyse und reproduzierbare Probenpositionierung für anspruchsvolle Anwendungen...

Dienstleistungen für die Elektronikbranche (EMS, ECS)

Die Kombination von Fertigteilen und vor Ort gefertigter Komponenten zur Entmontage oder für ein Produkt umfasst viele Prüfpunkte, von der Eingangsprüfung bis zur Kontrolle im Produktionsprozess. Unsere Mikrofokus-RFA Produkte erlauben es Ihnen, Komponenten, Lötstellen und Veredelungen in der gesamten Anlage zu analysieren und bei jedem Schritt Qualität zu gewährleisten.

Photovoltaik

Die Nachfrage nach erneuerbaren Energien steigt kontinuierlich. Bei der Gewinnung von Sonnenenergie spielen Photovoltaikanlagen eine wichtige Rolle. Die Qualität der dünnen Solarzellen ist ein wichtiger Bestandteil zur effizienten Energiegwinnung. MIt der Mikrospot-RFA stellen Sie sicher, dass die Solarzellen passgenau und gleichmäig befestigt sind, um maximale Effektivität zu erreichen.

Eingeschränkte Materialien und Screening mit hoher Zuverlässigkeit

Innerhalb einer komplexen, globalen Lieferkette muss man sich auf das von Händlern gelieferte Material verlassen können, daher ist Kontrolle besser. Nutzen Sie unsere RFA-Technologie, um eingehende Lieferungen auf ihre Konformität mit Regularien wie RoHS und ELV nach IEC 62321 zu überprüfen. Stellen Sie sicher, dass bei Anwendungen z. B. in der Luftfahrt und beim Militär hoch verlässliche Beschichtungen eingesetzt werden.

 

X-Strata 920
Proportionalzähler

MAXXI 6
Hochaufgeöster SDD

ENIG ★★☆ ★★★
ENEPIG ★★☆ ★★★
Schichtdicke und Zusammensetzung bei Chemisch Nickel (IPC 4556, IPC 4552) N/A ★★★
Schichtdicke bei Chemisch Nickel ★★☆ ★★★
Chemisch Ag ★★☆ ★★★
Chemisch Sn ★★☆ ★★★
HASL ★★☆ ★★★
Bleifreier Lötzinn (z.B. SAC) ★☆☆ ★★★
CIGS N/A ★★★
CdTe N/A ★★★
Dünnschicht-Analyse im nm-Bereich N/A ★★★
Mehrschicht-Analyse ★★☆ ★★★
IEC 62321 RoHS screening N/A ★★★

Korrosionsbeständigkeit

Überprüfung der Dicke und chemischen Zusammensetzung der Beschichtung, um die Funktionalität und Beständigkeit des Produkts in rauher Umgebung zu sichern, bequeme Analyse von kleinen Teilen und großen Baugruppen.

Verschleißfestigkeit

Vermeidung von Produktausfällen durch die Sicherung der Schichtdicke und Gleichmäßigkeit der kritischen Teile, die in rauher Umgebung eingesetzt werden. Analyse komplexer Formen, dünner oder dicker Schichten und von Endprodukten.

Metallveredelung

Für eine einwandfreie Verarbeitung ist die Qualitätskontrolle während des Produktionsprozesses von entscheidender Bedeutung. Mit den Oxford Instruments Messgeräten können Sie zuverlässig Basismaterialien überprüfen sowie Zwischen- und Deckschichten analysieren.

Hochtemperaturbeständigkeit

Oberflächenbehandlungen für Teile, die extremsten Bedingungen ausgesetzt sind, müssen innerhalb enger Toleranzen kontrolliert werden. Die Gewährleistung der Beschichtungseigenschaften vermeidet Rückrufe und Ausfälle.

 

 

X-Strata 920
Proportionalzähler

MAXXI 6
Hochaufgelöster SDD

Zn / Fe, Fe Legierungen
Cr / Fe, Fe Legierungen
Ni / Fe, Fe Legierungen
★★☆ ★★★
ZnNi / Fe, Fe Legierungen
ZnSn / Fe, Fe Legierungen
★★☆ ★★★
NiP / Fe
NiP / Cu
NiP / Al
★★☆
(Nur Schichtdicke)
★★★
(Schichtdicke und
Zusammensetzung)
Ag / Cu
Sn / Cu 
★★☆ ★★★
Cr / Ni / Cu / ABS ★★☆ ★★★
Au / Pd / Ni /CuZn ★★☆ ★★★
WC / Fe, Fe Legierungen
TiN / Fe, Fe Legierungen
★★☆ ★★★
Dünnschicht-Analyse im nm-Bereich N/A ★★★
Mehrschicht-Analyse ★★☆ ★★★
IEC 62321 RoHS Screening N/A ★★★

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Mit dem hochauflösenden, leistungsstarken Silizium-Drift-Detektor (SDD) ist der MAXXI 6 das ideale Instrument für die Analyse dünnster Beschichtungen bis in den Nanometerbereich und die Spurenanalyse. Ausgestattet mit bis zu 6 Primärfiltern und 8 Kollimatoren, kann der MAXXI 6 anspruchsvollste Anwendungen bewältigen. Die extrem große, geschlitzte Probenkammer ist passend für kleine, große oder lange Proben. Die optimierte Hardware-Konfiguration ermöglicht die direkte Analyse von %P in Nickel-Phosphor-Anwendungen. 

Den X-Strata 920 gibt es in drei Konfigurationsvarianten für eine Vielzahl von Proben, Formen und Größen. Die Standardprobenkammer ermöglicht eine schnelle Positionierung von kleinen oder dünnen Teilen. Die Probenkammer mit höhenverstellbarem Probentisch ermöglicht die Messung unterschiedlichster Proben, von kleinen Teilen bis zu sehr großen Proben. Mit dem motorisierten XYZ-Tisch kann eine automatisierte Analyse von mehreren Proben oder mehreren Stellen an einer einzigen Probe durchgeführt werden. 

X-Strata 920
  • Proportionalzählersystem
  • Elementbereich: Ti - U
  •  Geschlitzte Messkammer
  • XY-Tisch Optionen: Fixed base, deep well, motorisiert
  • Maximale Probengröße: 270 x 500 x 150 mm
  • Maximale Anzahl von Kollimatoren: 6
  • Filter: 3
  • Kleinster Kollimator: 0,01 x 0,25 mm (0,5 x10 mil)
  • SmartLink Software
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MAXXI 6
  • Hochauflösender SDD
  • Elementbereich: Al - U
  • Geschlitzte Messkammer
  • XY-Tisch Optionen: Fixed base, motorisiert
  • Maximale Probengröße: 500 x 450 x 170 mm
  • Maximale Anzahl von Kollimatoren: 8
  • Filter: 5
  • Kleinster Kollimator: 0.05 x 0.05 mm (2 x 2 mil)
  • SmartLink Software
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