Hitachi High-Tech Analytical Science bringt das neue FT160 RFA-Gerät zur Schichtdickenanalyse auf den Markt.

Oxford, Großbritannien, 4. Februar 2020: Hitachi High-Tech Analytical Science Corporation (Hitachi High-Tech Analytical Science), eine auf die Herstellung und den Vertrieb von Analyse- und Messgeräten spezialisierte 100%ige Tochter der Hitachi High-Technologies Corporation (TSE: 8036), stellt heute das neue FT160 RFA-Gerät mit drei Basiskonfigurationsoptionen für die Analyse von Beschichtungen im Nanometerbereich vor.

Nach der Einführung der neuen FT160-Serie in Japan vertreibt und wartet Hitachi High-Tech Analytical Science nun die Schichtdickenanalysegeräte der FT160-Serie in China, Nordamerika, Europa, dem Nahen Osten und Afrika. Diese neueste Generation von Hitachi- Schichtdickenanalysegeräte wurde entwickelt, um den Herausforderungen der Messung ultradünner Beschichtungen auf kleinsten Komponenten gerecht zu werden. Das FT160 ist ein RFA-Tischgerät (Energiedispersive Röntgenfluoreszenz) mit leistungsfähiger Software und Hardware, die für einen hohen Probendurchsatz und qualitativ hochwertige Ergebnisse sorgen. Die FT160-Serie wurde entwickelt, um eine Schlüsselrolle bei der Qualitätskontrolle in der Produktion zu spielen und ist in der Lage ein breites Anwendungsspektrum auf dem Markt für Halbleiter-, Leiterplatten- und Elektronikkomponenten zu messen.

Messen Sie Beschichtungen im nm-Maßstab

Das FT160 verfügt über High-End-Komponenten für die ultimative Analyse von ultradünnen Beschichtungen auf feinen Strukturen. Eine Polykapillaroptik fokussiert den Röntgenstrahl auf einen Durchmesser von <30 µm, wodurch die Probe intensiver angeregt wird und Merkmale gemessen werden, die kleiner sind als dies mit herkömmlichen Kollimatoren möglich ist. Ein hochsensibler, hochauflösender Hitachi High-Tech-Silizium-Driftdetektor (SDD) nutzt die Optik voll aus, um Beschichtungen auf Mikroelektronik und Halbleitern im nm-Maßstab zu messen. Ein hochpräziser Probentisch und eine hochauflösende Kamera mit digitalem Zoom ermöglichen eine schnelle Positionierung der Probenstrukturen, um den Probendurchsatz zu verbessern.

Matt Kreiner, Produktmanager bei Hitachi High-Tech Analytical Science, sagt: „Das FT160 baut auf dem Erfolg seiner Vorgänger auf und bietet eine neu gestaltete Beleuchtungsanordnung für eine bessere Sichtbarkeit und Positionierung der Teile, neue Konfigurationsoptionen für eine optimierte Leistung für bestimmte Anwendungen und einen neuen kompakten Basiskonfigurationsfaktor für ausgelastete Testlabors. Die ständige Weiterentwicklung der Hardware- und Analysefunktionen dieser Produktlinie macht es unseren Kunden einfacher denn je, die Produktion in der sich schnell entwickelnden Mikroelektroniklandschaft zu steuern. Der FT160 ergänzt unser umfassendes Sortiment an Beschichtungsinstrumenten. Dies ist das Ergebnis von über 45 Jahren Erfahrung in der Entwicklung von RFA-Analysegeräten.“

Die FT160-Serie kann ab sofort bestellt werden. Wenden Sie sich unter [email protected] an Hitachi High-Tech Analytical Science